แบนเนอร์
บ้าน

ห้องหมุนเวียนความร้อน

เอกสารสำคัญ
แท็ก

ห้องหมุนเวียนความร้อน

  • How to Choose a Thermal Cycling Chamber? Lab Companion TC Series Rapid Temperature Change Chamber Selection Guide How to Choose a Thermal Cycling Chamber? Lab Companion TC Series Rapid Temperature Change Chamber Selection Guide
    Aug 08, 2026
    Avoid Low-Cost Equipment Pitfalls: Save on Hardware, Lose on Certification In industrial procurement of thermal cycling test chambers, many overseas enterprises prioritize low upfront cost over compliance performance. Most budget devices feature nominal temperature ranges but fail to meet strict JEDEC international standard requirements in core hardware accuracy and temperature control stability. This leads directly to certification failures, costly re-tests, wasted R&D cycles, and unnecessary labor losses. TheJESD22-A104 standard defines strict mandatory specifications for temperature ramp rate, temperature uniformity, and 4-stage cyclic control. If buyers only focus on maximum/minimum temperature values while ignoring critical indicators such as ramp accuracy, chamber uniformity, and programmable controller functions, the equipment will not pass official third-party audits. Furthermore, entry-level low-cost chambers lack essential industrial functions including program storage, ramp rate locking, and automatic data logging. Operators must reset parameters manually for every test, resulting in high human error rates and poor test repeatability. The hidden replacement costs—including re-qualification, staff retraining, and project delays—far exceed the initial equipment price difference. To solve global industry pain points, Lab Companion TC Series Rapid Temperature Change Test Chambers are professionally manufactured in China, fully compliant with JESD22-A104 and AEC-Q100 automotive standards. This guide provides a systematic selection framework for global buyers, helping you choose compliant, stable, and cost-effective thermal cycling solutions. 1. Three Mandatory Hardware Thresholds for International Standards As the latest global specification for electronic component thermal cycling testing, JESD22-A104F.01 regulates all single-chamber and multi-chamber air-based thermal cycling systems. Qualified test equipment must satisfy the following three core criteria and adapt to two mainstream industry working conditions. 1.1 Core Mandatory Technical Requirements ① Precise & Lockable Linear Temperature Ramp Rate The standard requires a maximum linear ramp rate of 15℃/min with stable and consistent speed control. Uncontrolled or fluctuating ramp rates will turn standard thermal cycling into thermal shock testing, invalidating all certification data. Certified chambers must support multi-level ramp rate locking to eliminate manual setup errors and ensure standardized test conditions. ② High Temperature Uniformity for Full-Chamber Consistency Uniform temperature distribution across the entire test space is essential to avoid inconsistent sample performance and certification failures. Lab Companion TC Series delivers exceptional stability: temperature fluctuation ≤0.5℃, overall chamber temperature deviation from ±1.5℃ to ±2℃, ensuring high repeatability and fully compliant test results. ③ Independent 4-Stage Programmable Control Standard thermal cycling consists of four independent phases: low-temperature soaking → linear heating → high-temperature soaking → linear cooling. Qualified equipment must support independent programming of heating rate, cooling rate, high/low temperature dwell time, enabling flexible editing and storage of customized test procedures for diverse product validation demands. 1.2 Condition A (Consumer Electronics) VS Condition G (Automotive Grade) ① JESD22-A104 Condition A for Consumer Electronics Temperature range: -55℃~+85℃, 2–3 cycles per hour. Key requirements: stable ramp rate of 10–15℃/min, minimum dwell time of 10 minutes (Mode3). Widely adopted for daily reliability verification of consumer electronic products. ② JESD22-A104 Condition G for Automotive Grade (AEC-Q100) Temperature range: -40℃~+125℃, standard ramp rate of 15℃/min, serving as the core test condition for automotive chip and component certification. Stricter specifications apply: 15℃/min precise linear rate locking and minimum 15-minute high/low temperature soaking to ensure full thermal equilibrium of solder joints and internal structures, guaranteeing valid automotive-grade test data. 2. Lab Companion TC Series Full Range Selection Guide Manufactured in China with strict quality control, the Lab Companion TC Series includes Standard Models and High-End Custom Models. The full product line covers small-scale R&D verification, large-scale finished product testing, consumer electronics, automotive, and new energy industries, fully aligned with global mainstream industrial standards. 2.1 Standard Series: Ideal for Consumer Electronics & General Laboratory Use Core Parameters: Temperature range -70℃~+150℃, standard linear ramp rates of 5℃/min, 10℃/min, 15℃/min, fully covering all JESD22-A104 conditions (A~T). Chamber Volumes: 80L, 150L, 225L, 408L, 800L. The 80L model is specially optimized for single-chip testing and small-batch R&D validation with outstanding cost performance. Application Scenarios: Smartphones, tablets, wearable devices, TWS earphones, passive electronic components (resistors, capacitors, inductors), PCBA boards, and consumer-grade chips. Test data repeatability reaches 99.5%. Procurement Recommendation: Suitable for small and medium-sized enterprises, consumer electronics manufacturers, and chip design laboratories. Standard TC models fully meet daily R&D, mass production sampling, and basic certification testing needs with optimal cost-efficiency. 2.2 High-End Custom Series: For Automotive, New Energy & Power Semiconductors Enhanced Ramp Performance: Supports extended linear ramp rates of 20℃/min and 25℃/min. With optional liquid nitrogen auxiliary cooling, the maximum cooling rate can reach 30℃/min for extreme fast thermal cycling tests. Custom Large Chamber Size: Supports non-standard customized volumes from 80L to 8000L, accommodating oversized samples such as complete modules and finished equipment. Application Scenarios: Automotive control units, IGBT/SiC power semiconductor modules, new energy battery packs, and large-scale industrial electronic devices. Fully compliant with AEC-Q100 automotive certification and new energy reliability standards. Procurement Recommendation: Recommended for automotive component suppliers, power semiconductor manufacturers, new energy vehicle enterprises, and high-level reliability laboratories to meet high-speed temperature cycling and large-size sample testing requirements. 3. Core Procurement Value: Certified Quality & Global Stable Support 3.1 Full Standard Calibration Before Delivery, Ready for Global Certification All Lab Companion TC Series chambers complete full JESD standard calibration and inspection in China before shipment. Core indicators including temperature range, ramp rate, fluctuation, and uniformity are fully verified. The equipment can be directly used for third-party certification without secondary adjustment. It also complies with GB/T 10592, GB/T 2423, GJB 150A, IEC 60068 and other global mainstream reliability standards. 3.2 China Local Manufacturing & Global Online Technical Support Lab Companion owns professional standardized manufacturing bases in China, ensuring strict production quality control and stable product performance. For global overseas customers, online remote technical support is provided throughout the whole lifecycle (no on-site door-to-door service for overseas regions). Our professional international support team offers equipment installation guidance, operational training, fault diagnosis, and regular calibration guidance to maintain long-term standard compliance and stable operation. 3.3 Free Standard Test Program Templates, Zero-Cost Scheme Deployment The intelligent controller supports unlimited program storage, one-click calling, and batch reuse. Preloaded with verified mainstream standard templates including JEDEC_CondA and AEC_CondG, all free of extra customization fees. New operators can directly call standard programs to start tests, eliminating manual parameter errors, greatly improving test efficiency and data consistency, and reducing enterprise trial-and-error costs. 4. Industry-Specific Selection Suggestions ✅ Consumer Electronics & Digital Industry — TC Standard Series For JESD22-A104 Condition A testing of mobile phones, wearables, and consumer terminals, 80L–225L standard models with 10–15℃/min ramp rates perfectly match full-scenario R&D, mass production, and certification demands with the best cost-performance. ✅ Automotive, Power Semiconductor & New Energy Industry — TC High-End Custom Series For AEC-Q100 Condition G automotive-grade testing of vehicle controllers and power modules, 15–25℃/min high-speed customized models with volumes above 408L are preferred. They support precise rate locking and long-term stable compliance, meeting strict high-end certification requirements. Conclusion: Choose Once, Use Stably for Long-Term The core of thermal cycling chamber procurement lies in standard compliance, operational stability, and long-term reliability, not low unit price. Low-cost unqualified equipment will lead to certification failure, repeated tests, and project delays, bringing far higher hidden losses than equipment procurement costs. As a China-manufactured high-quality test equipment brand, Lab Companion TC Series features a wide temperature range, high precision, standardized procedures, intelligent operation, and professional global online support. With standard models for conventional scenarios and customized models for high-end demands, it helps global enterprises select accurate, compliant, and cost-effective thermal cycling test solutions.
    อ่านเพิ่มเติม
  • ระบบทดสอบการทำงานและการบ่มที่อุณหภูมิสูงและต่ำระบายความร้อนด้วยน้ำ OVEN-256-10W
    Aug 20, 2025
    เตาอบ-256-10 วัตต์ เป็นระบบทดสอบความหนาแน่นสูงที่ออกแบบมาเพื่อตอบสนองข้อกำหนดการทดสอบประสิทธิภาพที่เข้มงวดของ NVMe SSD ซึ่งสามารถทดสอบไดรฟ์ได้พร้อมกันสูงสุด 256 ตัว ทำงานในช่วงอุณหภูมิ -10°C ถึง 85°C และรองรับอินเทอร์เฟซ PCIe Gen5 x4 ล่าสุด ควบคู่ไปกับข้อกำหนดโปรโตคอล NVMe Ver2.0 ช่องทดสอบแต่ละช่องมีการควบคุมแรงดันไฟฟ้าของแหล่งจ่ายไฟ SSD ได้อย่างอิสระ รวมถึงการกำหนดขอบเขตแรงดันไฟฟ้าตั้งแต่ 0V ถึง 14.5V ระบบนี้สร้างขึ้นบนกรอบการทำงานที่ครบถ้วนสำหรับการทดสอบการผลิต SSD ระบบนี้ให้การสนับสนุนที่ครอบคลุมสำหรับการทดสอบนำร่องเพื่อการวิจัยและพัฒนา ซึ่งรวมถึง EVT, DVT และ PVT รวมถึงการทดสอบคุณภาพและความน่าเชื่อถือสำหรับการผลิตจำนวนมาก เช่น MP, ORT และ ODT การทำงานที่ใช้งานง่ายและการกำหนดค่าที่ยืดหยุ่นสูง ช่วยเพิ่มประสิทธิภาพการผลิตและคุณภาพของผลิตภัณฑ์ขั้นสุดท้ายในการผลิต SSD ได้อย่างมาก คุณสมบัติผลิตภัณฑ์ช่วงการควบคุมอุณหภูมิ: -10°C ถึง 85°C;อัตราการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ: 1°C ต่อ 1 นาที;รองรับ PCIe Gen5 x4;สามารถควบคุมแรงดันไฟฟ้าของพอร์ตทดสอบแต่ละพอร์ตได้ผ่านการเขียนโปรแกรมสคริปต์ โดยมีช่วงที่ปรับได้ตั้งแต่ 0.6V – 14.5V และความแม่นยำในการควบคุมที่ 1mVเข้ากันได้กับโปรโตคอล NVMe Ver2.0 ล่าสุดและรองรับคำสั่ง NVMe ที่ผู้ใช้กำหนดไลบรารีสคริปต์ที่ครอบคลุมและระบบวิเคราะห์ฐานข้อมูลอันทรงพลังซอฟต์แวร์ LTWolf รองรับคุณลักษณะที่กำหนดเองเพิ่มเติมตามความต้องการของลูกค้าการบูรณาการที่ราบรื่นกับระบบ MES ของลูกค้า พร้อมการปรับแต่งตามต้องการสำหรับระบบการจัดการข้อมูลการผลิตการออกแบบการป้องกันไฟร์วอลล์ช่วยแยกวงจรการทดสอบและอุปกรณ์ที่อยู่ระหว่างการทดสอบ (DUT) ออกจากกันอย่างสมบูรณ์อัลกอริทึมการทดสอบที่ครอบคลุมและผ่านการพิสูจน์แล้ว รวมถึง EVT, DVT, RDT, TVM และอื่นๆ
    อ่านเพิ่มเติม
  • บทบาทของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำสำหรับการทดสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ บทบาทของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำสำหรับการทดสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์
    Jan 10, 2025
    บทบาทของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำสำหรับการทดสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ ใช้สำหรับส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์และไฟฟ้า ชิ้นส่วนอัตโนมัติ ส่วนประกอบการสื่อสาร ชิ้นส่วนยานยนต์ โลหะ วัสดุเคมี พลาสติกและอุตสาหกรรมอื่นๆ อุตสาหกรรมการป้องกันประเทศ อวกาศ การทหาร BGA ประแจพื้นผิว PCB ชิป IC อิเล็กทรอนิกส์ เซรามิกแม่เหล็กเซมิคอนดักเตอร์ และวัสดุพอลิเมอร์ที่เปลี่ยนแปลงทางกายภาพ การทดสอบประสิทธิภาพของวัสดุเพื่อทนต่ออุณหภูมิสูงและต่ำ และการเปลี่ยนแปลงทางเคมีหรือความเสียหายทางกายภาพของผลิตภัณฑ์ในการขยายตัวและหดตัวเนื่องจากความร้อนสามารถยืนยันคุณภาพของผลิตภัณฑ์ได้ ตั้งแต่ IC ที่มีความแม่นยำไปจนถึงส่วนประกอบเครื่องจักรหนัก จะเป็นห้องทดสอบที่จำเป็นสำหรับการทดสอบผลิตภัณฑ์ในหลากหลายสาขาห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำสามารถทำอะไรได้บ้างสำหรับส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์เป็นรากฐานของเครื่องจักรทั้งหมดและอาจทำให้เกิดความล้มเหลวที่เกี่ยวข้องกับเวลาหรือความเครียดในระหว่างการใช้งานเนื่องจากข้อบกพร่องโดยธรรมชาติหรือการควบคุมกระบวนการผลิตที่ไม่เหมาะสม เพื่อให้มั่นใจถึงความน่าเชื่อถือของส่วนประกอบทั้งหมดและตอบสนองความต้องการของระบบทั้งหมด คุณต้องแยกส่วนประกอบที่อาจมีข้อผิดพลาดเบื้องต้นภายใต้เงื่อนไขการทำงานออกไป1.การเก็บรักษาที่อุณหภูมิสูงความล้มเหลวของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ส่วนใหญ่เกิดจากการเปลี่ยนแปลงทางกายภาพและเคมีต่างๆ ในร่างกายและพื้นผิว ซึ่งเกี่ยวข้องอย่างใกล้ชิดกับอุณหภูมิ หลังจากอุณหภูมิสูงขึ้น ความเร็วของปฏิกิริยาเคมีจะเร่งขึ้นอย่างมาก ทำให้กระบวนการล้มเหลวเร็วขึ้น ส่วนประกอบที่ชำรุดสามารถเปิดเผยได้ทันเวลาและกำจัดออกไปการคัดกรองอุณหภูมิสูงใช้กันอย่างแพร่หลายในอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ ซึ่งสามารถขจัดกลไกความล้มเหลว เช่น การปนเปื้อนบนพื้นผิว การยึดติดที่ไม่ดี และข้อบกพร่องของชั้นออกไซด์ได้อย่างมีประสิทธิภาพ โดยทั่วไปจะเก็บไว้ที่อุณหภูมิรอยต่อสูงสุดเป็นเวลา 24 ถึง 168 ชั่วโมง การคัดกรองอุณหภูมิสูงนั้นง่าย ราคาไม่แพง และสามารถดำเนินการได้กับชิ้นส่วนต่างๆ มากมาย หลังจากจัดเก็บที่อุณหภูมิสูงแล้ว ประสิทธิภาพของพารามิเตอร์ของส่วนประกอบจะคงที่ และลดความคลาดเคลื่อนของพารามิเตอร์ในการใช้งานได้2. การทดสอบกำลังไฟฟ้าในการคัดกรองภายใต้การกระทำร่วมกันของความเครียดเทอร์โมอิเล็กทริก ข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นได้มากมายของตัวเครื่องและพื้นผิวของส่วนประกอบสามารถเปิดเผยได้อย่างดี ซึ่งเป็นโครงการสำคัญของการคัดกรองความน่าเชื่อถือ ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ต่างๆ มักจะถูกกลั่นเป็นเวลาไม่กี่ชั่วโมงถึง 168 ชั่วโมงภายใต้เงื่อนไขพลังงานที่กำหนด ผลิตภัณฑ์บางอย่าง เช่น วงจรรวม ไม่สามารถเปลี่ยนแปลงเงื่อนไขโดยพลการ แต่สามารถใช้โหมดการทำงานอุณหภูมิสูงเพื่อเพิ่มอุณหภูมิของจุดเชื่อมต่อการทำงานเพื่อให้ได้สถานะความเครียดสูง การกลั่นพลังงานต้องใช้อุปกรณ์ทดสอบพิเศษ ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ ต้นทุนสูง เวลาในการคัดกรองไม่ควรนานเกินไป ผลิตภัณฑ์พลเรือนมักจะใช้เวลาไม่กี่ชั่วโมง ผลิตภัณฑ์ความน่าเชื่อถือสูงทางทหารสามารถเลือก 100,168 ชั่วโมง และส่วนประกอบระดับการบินสามารถเลือก 240 ชั่วโมงขึ้นไป3. วัฏจักรอุณหภูมิผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์จะเผชิญกับสภาวะอุณหภูมิแวดล้อมที่แตกต่างกันระหว่างการใช้งาน ภายใต้แรงกดดันจากการขยายตัวและหดตัวเนื่องจากความร้อน ส่วนประกอบที่มีประสิทธิภาพการจับคู่ความร้อนไม่ดีอาจเสียหายได้ง่าย การตรวจคัดกรองตามรอบอุณหภูมิใช้แรงกดดันจากการขยายตัวและหดตัวเนื่องจากความร้อนระหว่างอุณหภูมิที่สูงมากและอุณหภูมิที่ต่ำมากเพื่อกำจัดผลิตภัณฑ์ที่มีข้อบกพร่องด้านประสิทธิภาพความร้อนได้อย่างมีประสิทธิภาพ สภาวะการตรวจคัดกรองส่วนประกอบที่ใช้กันทั่วไปคือ -55~125℃, 5~10 รอบการกลั่นพลังงานต้องใช้อุปกรณ์ทดสอบพิเศษ ต้นทุนสูง เวลาในการคัดกรองไม่ควรนานเกินไป ผลิตภัณฑ์พลเรือนมักใช้เวลาเพียงไม่กี่ชั่วโมง ผลิตภัณฑ์ทางทหารที่มีความน่าเชื่อถือสูงสามารถเลือกใช้งานได้ 100,168 ชั่วโมง และส่วนประกอบระดับการบินสามารถเลือกใช้งานได้ 240 ชั่วโมงขึ้นไป4. ความจำเป็นของส่วนประกอบการคัดกรองความน่าเชื่อถือโดยธรรมชาติของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ขึ้นอยู่กับการออกแบบความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ ในกระบวนการผลิตของผลิตภัณฑ์ เนื่องจากปัจจัยของมนุษย์หรือความผันผวนของวัตถุดิบ เงื่อนไขกระบวนการ และเงื่อนไขอุปกรณ์ ผลิตภัณฑ์ขั้นสุดท้ายจึงไม่สามารถบรรลุความน่าเชื่อถือโดยธรรมชาติตามที่คาดหวังได้ ในแต่ละชุดของผลิตภัณฑ์สำเร็จรูป มักจะมีผลิตภัณฑ์บางอย่างที่มีข้อบกพร่องและจุดอ่อนที่อาจเกิดขึ้น ซึ่งมีลักษณะเฉพาะคือเกิดความล้มเหลวก่อนกำหนดภายใต้สภาวะกดดันบางประการ อายุการใช้งานเฉลี่ยของชิ้นส่วนที่ล้มเหลวก่อนกำหนดนั้นสั้นกว่าผลิตภัณฑ์ทั่วไปมากอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์จะทำงานได้อย่างน่าเชื่อถือหรือไม่นั้นขึ้นอยู่กับว่าส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์จะทำงานได้อย่างน่าเชื่อถือหรือไม่ หากติดตั้งชิ้นส่วนที่เสียหายในระยะเริ่มต้นร่วมกับอุปกรณ์เครื่องจักรทั้งหมด อัตราความเสียหายในระยะเริ่มต้นของอุปกรณ์เครื่องจักรทั้งหมดจะเพิ่มขึ้นอย่างมาก และความน่าเชื่อถือจะไม่เป็นไปตามข้อกำหนด และยังต้องเสียเงินจำนวนมากในการซ่อมแซมอีกด้วยดังนั้น ไม่ว่าจะเป็นผลิตภัณฑ์ทางทหารหรือผลิตภัณฑ์พลเรือน การคัดกรองถือเป็นวิธีการสำคัญในการรับรองความน่าเชื่อถือ ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำเป็นตัวเลือกที่ดีที่สุดสำหรับการทดสอบความน่าเชื่อถือด้านสิ่งแวดล้อมของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์
    อ่านเพิ่มเติม
  • วิธีการบำรุงรักษาห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ วิธีการบำรุงรักษาห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ
    Jan 08, 2025
    วิธีการบำรุงรักษาห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำมีสามประเภททั่วไป ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ ตัวควบคุม: ความล้มเหลวของซอฟต์แวร์, ความล้มเหลวของระบบ และความล้มเหลวของฮาร์ดแวร์1. ความล้มเหลวของซอฟต์แวร์: ความล้มเหลวของซอฟต์แวร์ส่วนใหญ่หมายถึงความล้มเหลวของตัวควบคุมของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ ซึ่งรวมถึงพารามิเตอร์ภายใน จุดควบคุม IS การควบคุมและสัญญาณเอาต์พุตของวาล์วโซลินอยด์เปิดและปิด2. ระบบล้มเหลว: ความล้มเหลวของระบบหมายถึงปัญหาการออกแบบเบื้องต้นของระบบทำความเย็น ซึ่งรวมถึงการรั่วไหลของสารทำความเย็นที่เกิดจากห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำไม่เย็นลง และการรั่วไหลของสารทำความเย็นมักเกิดจากการขนส่งและการทำงานของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำที่ไม่เสถียร หรือกระบวนการเชื่อมท่อทองแดงทำความเย็นไม่ละเอียดและสาเหตุอื่นๆ ที่เกิดขึ้น3. ความล้มเหลวของฮาร์ดแวร์: ความล้มเหลวของฮาร์ดแวร์อาจส่งผลให้คอมเพรสเซอร์ฮาร์ดแวร์ โซลินอยด์วาล์ว และส่วนประกอบระบบทำความเย็นอื่นๆ ไม่สามารถทำความเย็นได้จากนั้นผู้ใช้สามารถฟังและสัมผัสเพื่อทำความเข้าใจคร่าวๆ ว่าความเสียหายของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำของฮาร์ดแวร์คืออะไร หากคอมเพรสเซอร์เกิดความล้มเหลว เสียงคอมเพรสเซอร์จะผิดปกติหรือไม่ทำงาน ไม่เริ่มทำงาน หรืออุณหภูมิของคอมเพรสเซอร์เองสูงกว่าปกติมาก และผู้ใช้อาจไม่สามารถเชี่ยวชาญเรื่องความล้มเหลวของวาล์วโซลินอยด์และความล้มเหลวของส่วนประกอบทำความเย็นอื่นๆ ได้นอกจากนี้ ความเสียหายของตัวควบคุมและความเสียหายของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ของระบบทำความเย็นควบคุมอาจทำให้เกิดปรากฏการณ์ไม่ทำความเย็นและไม่ทำความเย็นของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำได้อีกด้วยหลักการทางวิทยาศาสตร์ในการให้ความร้อนและความเย็นของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ:ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำมีฟังก์ชั่นการทำความร้อน การทำความเย็น การทำให้ชื้นและการลดความชื้น และสามารถตรวจจับความต้านทานอุณหภูมิสูง ความต้านทานอุณหภูมิต่ำ และความต้านทานความชื้นของผลิตภัณฑ์ได้ อุณหภูมิในห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำควบคุมอย่างไร?อุปกรณ์ทำความร้อนเป็นกุญแจสำคัญในการควบคุมว่าห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำจะร้อนขึ้นหรือไม่ ตัวควบคุมจะส่งแรงดันไฟฟ้าไปยังรีเลย์เมื่อได้รับคำสั่งให้ทำความร้อน ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำเป็นกระแสตรงประมาณ 3-12 โวลต์ที่เพิ่มเข้าไปในรีเลย์โซลิดสเตต ปลาย AC ของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำเทียบเท่ากับการเชื่อมต่อสายไฟ และคอนแทคเตอร์ยังถูกดึงในเวลาเดียวกัน ให้ความร้อนห้องทดสอบอุณหภูมิคงที่และความชื้นการระบายความร้อนเป็นส่วนสำคัญของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ ซึ่งส่งผลโดยตรงต่อการกำหนดอุณหภูมิสูงและต่ำและประสิทธิภาพการทำงาน รวมทั้งคอมเพรสเซอร์ คอนเดนเซอร์ อุปกรณ์ควบคุมความเร็ว ส่วนประกอบหลักทั้งสี่ของเครื่องระเหย คอมเพรสเซอร์เป็นหัวใจสำคัญของระบบทำความเย็น โดยจะดูดก๊าซอุณหภูมิต่ำและความดันต่ำเข้าไป ให้กลายเป็นก๊าซอุณหภูมิสูงและความดันสูง ผ่านการควบแน่นเป็นของเหลวเพื่อระบายความร้อน และผ่านพัดลมเพื่อระบายความร้อนออกไป ดังนั้น ห้องทดสอบจึงเป็นสาเหตุของอากาศร้อน จากนั้นจึงกลายเป็นของเหลวความดันต่ำผ่านการควบคุมความเร็ว จากนั้นจึงกลายเป็นก๊าซอุณหภูมิต่ำและความดันต่ำผ่านเครื่องระเหยกลับไปยังคอมเพรสเซอร์ สารทำความเย็นในเครื่องระเหยจะดูดซับความร้อนจากห้องอุณหภูมิสูงและต่ำเพื่อทำให้กระบวนการเปลี่ยนก๊าซเสร็จสมบูรณ์ และดูดซับความร้อน เพื่อให้บรรลุวัตถุประสงค์ของการทำความเย็น เพื่อทำให้กระบวนการทำความเย็นห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำเสร็จสมบูรณ์ขั้นตอนการทดสอบอุณหภูมิห้องอุณหภูมิสูงและต่ำและอัตราการทำความเย็น:ในช่วงอุณหภูมิที่ปรับได้ของห้องทดสอบ อุณหภูมิที่กำหนดต่ำสุดจะถูกเลือกเป็นอุณหภูมิการทำความเย็นที่ต่ำที่สุด และเลือกอุณหภูมิที่กำหนดสูงสุดเป็นอุณหภูมิการทำความร้อนที่สูงที่สุดเปิดแหล่งความเย็นเพื่อให้ห้องทดสอบจากอุณหภูมิห้องไปยังอุณหภูมิการทำความเย็นต่ำสุดที่เสถียรเป็นเวลาอย่างน้อย 3 ชั่วโมง จากนั้นเพิ่มไปยังอุณหภูมิการทำความร้อนสูงสุดที่เสถียรเป็นเวลาอย่างน้อย 3 ชั่วโมงแล้วจึงเพิ่มไปยังอุณหภูมิการทำความเย็นต่ำสุด ในระหว่างการทำความร้อนและทำความเย็น ให้บันทึกครั้งละหนึ่งนาที จนกว่าจะสิ้นสุดกระบวนการทดสอบหลักการของการทำความร้อนและความเย็นในห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำเป็นเช่นนี้ การรับรู้ถึงหน้าที่ของมันเสร็จสมบูรณ์โดยการตั้งค่าระบบควบคุม การทำความเข้าใจหลักการของการทำความร้อนและความเย็น จะต้องสะดวกในการใช้งานห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำมากยิ่งขึ้น
    อ่านเพิ่มเติม
  • ความหมายและการใช้งานห้องทดสอบการหมุนเวียนอุณหภูมิ ความหมายและการใช้งานห้องทดสอบการหมุนเวียนอุณหภูมิ
    Jan 08, 2025
    ความหมายและการใช้งานห้องทดสอบการหมุนเวียนอุณหภูมิห้องทดสอบวงจรอุณหภูมิ เป็นอุปกรณ์ห้องปฏิบัติการชนิดหนึ่งที่ใช้กันอย่างแพร่หลายในอุตสาหกรรมต่างๆ หน้าที่หลักคือหมุนเวียนผลิตภัณฑ์ภายในช่วงอุณหภูมิที่กำหนดเพื่อจำลองการทำงานของผลิตภัณฑ์ในสภาพแวดล้อมที่มีอุณหภูมิต่างกัน อุปกรณ์นี้เป็นเครื่องมือสำคัญในการทดสอบความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ การควบคุมคุณภาพ และการประเมินประสิทธิภาพของผลิตภัณฑ์ห้องทดสอบวงจรอุณหภูมิใช้กันอย่างแพร่หลายและสามารถใช้ทดสอบในสาขาต่างๆ เช่น อวกาศ ยานยนต์ อิเล็กทรอนิกส์ พลังงานไฟฟ้า การแพทย์ และสาขาอื่นๆ ในภาคอวกาศ ห้องทดสอบวงจรอุณหภูมิใช้เพื่อทดสอบประสิทธิภาพของส่วนประกอบเครื่องบินในอุณหภูมิที่รุนแรงเพื่อให้มั่นใจถึงความน่าเชื่อถือในสภาพแวดล้อมที่รุนแรง ในภาคยานยนต์ ห้องทดสอบวงจรอุณหภูมิใช้เพื่อทดสอบประสิทธิภาพของส่วนประกอบยานยนต์ภายใต้สภาวะอุณหภูมิและความชื้นที่แตกต่างกันเพื่อให้แน่ใจว่ารถยนต์สามารถทำงานได้ตามปกติในสภาพแวดล้อมที่หลากหลาย ในภาคอิเล็กทรอนิกส์และพลังงาน ห้องทดสอบวงจรอุณหภูมิใช้เพื่อทดสอบประสิทธิภาพและความน่าเชื่อถือของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ภายใต้สภาวะอุณหภูมิที่แตกต่างกันเพื่อให้แน่ใจว่าอุปกรณ์สามารถทำงานได้อย่างเสถียรเป็นเวลานาน ในภาคการแพทย์ ห้องทดสอบวงจรอุณหภูมิใช้เพื่อทดสอบประสิทธิภาพและความน่าเชื่อถือของอุปกรณ์ทางการแพทย์ภายใต้สภาวะอุณหภูมิและความชื้นที่แตกต่างกันเพื่อให้แน่ใจว่าอุปกรณ์ทำงานได้ตามปกติหลักการทำงานของห้องทดสอบวงจรอุณหภูมิคือการดำเนินการทดสอบวงจรโดยการควบคุมอุณหภูมิและความชื้นในห้อง อุปกรณ์มีโหมดควบคุมอุณหภูมิที่หลากหลาย เช่น การควบคุมอุณหภูมิคงที่ การควบคุมอุณหภูมิที่ตั้งโปรแกรมไว้ การควบคุมอุณหภูมิที่ตั้งโปรแกรมไว้ ฯลฯ ซึ่งสามารถเลือกได้ตามความต้องการ ในระหว่างกระบวนการทดสอบ ห้องทดสอบวงจรอุณหภูมิจะวางผลิตภัณฑ์ในสภาพแวดล้อมอุณหภูมิที่แตกต่างกันสำหรับการทดสอบเพื่อจำลองการใช้ผลิตภัณฑ์ในสภาพแวดล้อมที่แตกต่างกัน หลังจากการทดสอบเสร็จสิ้น ผู้ใช้สามารถปรับปรุงและอัปเกรดผลิตภัณฑ์ตามผลการทดสอบเพื่อปรับปรุงความน่าเชื่อถือและประสิทธิภาพของผลิตภัณฑ์โดยสรุป ห้องทดสอบวงจรอุณหภูมิเป็นอุปกรณ์ห้องปฏิบัติการที่ใช้กันอย่างแพร่หลายในอุตสาหกรรมต่างๆ และหน้าที่หลักคือการหมุนเวียนผลิตภัณฑ์ภายในช่วงอุณหภูมิที่กำหนดเพื่อจำลองการทำงานของผลิตภัณฑ์ในสภาพแวดล้อมที่มีอุณหภูมิต่างกัน อุปกรณ์นี้สามารถใช้ทดสอบในสาขาต่างๆ เช่น อวกาศ ยานยนต์ อิเล็กทรอนิกส์ พลังงาน การแพทย์ และสาขาอื่นๆ และเป็นเครื่องมือสำคัญในการทดสอบความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ การควบคุมคุณภาพ และการประเมินประสิทธิภาพของผลิตภัณฑ์
    อ่านเพิ่มเติม
  • เครื่องคัดกรองความเครียดจากการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว ESS เครื่องคัดกรองความเครียดจากการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว ESS
    Dec 18, 2024
    เครื่องคัดกรองความเครียดจากการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว ESSการคัดกรองความเครียดจากสิ่งแวดล้อม (ESS)การคัดกรองความเครียดคือการใช้เทคนิคการเร่งความเร็วและความเครียดจากสิ่งแวดล้อมภายใต้ขีดจำกัดความแข็งแรงของการออกแบบ เช่น การเผาไหม้ การหมุนเวียนอุณหภูมิ การสั่นสะเทือนแบบสุ่ม การปิดเครื่อง... โดยการเร่งความเร็วความเครียด ข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นในผลิตภัณฑ์จะปรากฏขึ้น [ข้อบกพร่องของวัสดุชิ้นส่วนที่อาจเกิดขึ้น ข้อบกพร่องในการออกแบบ ข้อบกพร่องของกระบวนการ ข้อบกพร่องของกระบวนการ] และกำจัดความเครียดตกค้างทางอิเล็กทรอนิกส์หรือทางกล รวมถึงกำจัดตัวเก็บประจุที่หลงทางระหว่างแผงวงจรหลายชั้น ระยะการตายในช่วงต้นของผลิตภัณฑ์ในเส้นโค้งของอ่างจะถูกลบออกและซ่อมแซมล่วงหน้า เพื่อให้ผลิตภัณฑ์ผ่านการคัดกรองระดับปานกลาง บันทึกช่วงเวลาปกติและช่วงเสื่อมของเส้นโค้งของอ่างเพื่อหลีกเลี่ยงผลิตภัณฑ์ในกระบวนการใช้งาน การทดสอบความเครียดจากสิ่งแวดล้อมบางครั้งอาจนำไปสู่ความล้มเหลว ส่งผลให้เกิดการสูญเสียที่ไม่จำเป็น แม้ว่าการใช้การคัดกรองความเครียด ESS จะเพิ่มต้นทุนและเวลา แต่เพื่อปรับปรุงผลผลิตการส่งมอบผลิตภัณฑ์และลดจำนวนการซ่อมแซม ก็มีผลกระทบอย่างมาก แต่สำหรับต้นทุนรวมจะลดลง นอกจากนี้ ความไว้วางใจของลูกค้ายังได้รับการปรับปรุงเช่นกัน โดยทั่วไปแล้วสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ของวิธีการคัดกรองความเครียด ได้แก่ การเผาล่วงหน้า วงจรอุณหภูมิ อุณหภูมิสูง อุณหภูมิต่ำ วิธีการคัดกรองความเครียดของแผงวงจรพิมพ์ PCB คือ วงจรอุณหภูมิ สำหรับต้นทุนอิเล็กทรอนิกส์ของการคัดกรองความเครียดคือ การเผาล่วงหน้าด้วยพลังงาน วงจรอุณหภูมิ การสั่นสะเทือนแบบสุ่ม นอกเหนือจากตัวคัดกรองความเครียดเองแล้ว ยังเป็นขั้นตอนกระบวนการ มากกว่าการทดสอบ การคัดกรองเป็นขั้นตอนผลิตภัณฑ์ 100%คุณลักษณะของผลิตภัณฑ์เครื่องคัดกรองความเครียดจากการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว:1. สามารถตั้งค่าอุณหภูมิการคัดกรองความเครียดได้แตกต่างกัน คือ 5°C/นาที 10°C/นาที และ 15°C/นาที2 สามารถทำการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว (การคัดกรองความเครียด) การทดสอบการควบแน่น อุณหภูมิและความชื้นสูง วงจรอุณหภูมิและความชื้น และการทดสอบอื่นๆ3. ตรงตามข้อกำหนดในการทดสอบการคัดกรองความเครียดของผลิตภัณฑ์อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์4 สามารถสลับระหว่างอุณหภูมิเท่ากันและอุณหภูมิเฉลี่ยได้ 2 วิธีทดสอบข้อกำหนดด้านคุณลักษณะของเครื่องคัดกรองความเครียดจากการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว:1. สามารถตั้งค่าการคัดกรองความเครียดได้หลากหลาย (ความแปรผันของอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว) เงื่อนไขการทดสอบ 5°C/นาที 10°C/นาที และ 15°C/นาที2. เป็นไปตามการคัดกรองความเครียดของผลิตภัณฑ์อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ กระบวนการปราศจากสารตะกั่ว MIL-STD-2164, MIL-344A-4-16, MIL-2164A-19, NABMAT-9492, GJB-1032-90, GJB/Z34-5.1.6, IPC-9701 และข้อกำหนดการทดสอบอื่นๆ3. สามารถทดสอบอุณหภูมิเท่ากันและอุณหภูมิเฉลี่ยได้4. ใช้แผ่นอลูมิเนียมเพื่อตรวจสอบความสามารถในการรับน้ำหนักของเครื่องจักร (การรับน้ำหนักที่ไม่ใช่พลาสติก)
    อ่านเพิ่มเติม
  • ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงแบบสูญญากาศ ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงแบบสูญญากาศ
    Dec 11, 2024
    ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงแบบสูญญากาศคุณสมบัติของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงแบบสูญญากาศ: อุปกรณ์อุณหภูมิสูงพิเศษสำหรับการป้องกันการเกิดฟองและการเกิดออกซิเดชัน และเป็นไปตามมาตรฐาน: GB/T2423.1 (IEC60068-2-1), GB/T2423.2 (IEC60068-2-2), ISO16750; JESD22, GB/T 14710, GB/T 13543ประการแรก ภาพรวมผลิตภัณฑ์ของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงแบบสูญญากาศ:การออกแบบใหม่และเรียบง่าย;โปรแกรมควบคุมความดันและอุณหภูมิอัตโนมัติใช้งานง่ายและมีฟังก์ชันขั้นสูง หน้าต่างสังเกตสำหรับการสังเกตสถานะของวัสดุทดสอบได้อย่างง่ายดาย (ทางเลือก)โครงสร้างคู่ในห้อง: ภายในภาชนะสูญญากาศมีโครงสร้างคู่ของช่องด้านใน และมีการติดตั้งเครื่องทำความร้อนไว้ภายนอกห้องด้านใน เพื่อลดการสูญเสียความร้อน ปรับปรุงความสม่ำเสมอของอุณหภูมิ ลดระยะเวลาการเพิ่มขึ้นของอุณหภูมิลงอย่างมาก และปรับปรุงอัตราการทำงานของอุปกรณ์ใช้กันอย่างแพร่หลาย: สามารถใช้สำหรับการลดฟอง การกำจัดก๊าซ การชุบแข็ง การทำให้แห้ง และอื่นๆการผสมของเหลวเรซินและของเหลวซิลิโคนเมื่อทำการบำบัดลดฟองในกระบวนการผลิต LED การบำบัดการไล่ก๊าซออกจากการหล่อเรซินต่างๆ การฉีด IC ของการบำบัดการแข็งตัวของเรซินอีพอกซี การทำให้แห้งสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์หลังจากทำความสะอาดด้วยน้ำ ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงสูญญากาศสามารถนำมาใช้ในกระบวนการทั้งหมดนี้ได้ประการที่สอง รุ่นที่แตกต่างกันของห้องทดสอบอุณหภูมิสูงสูญญากาศ: หมายเลขรุ่น ช่วงอุณหภูมิระดับเสียงภายในพิมพ์ขนาดภายใน(ก*ส*ย)ขนาดภายนอก(ก*ส*ย)VAC-101P+40~+200℃91ลิตรช่วงความดันบรรยากาศ:933~1[*102Pa](abs)450×450×450902×1,392×780VAC-201P+40~+200℃216ลิตรช่วงความดันบรรยากาศ:933~1[*102Pa](abs)600×600×6001,052×1,532×930VAC-301P+40~+200℃512ลิตรช่วงความดันบรรยากาศ:933~1[*102Pa](abs)800×800×8001,252×1,772×1,130หมายเลขรุ่นช่วงอุณหภูมิ/แรงดันขนาดภายใน(ก*ส*ย)LCV-234(RT+20)°C~+200°C / 0-101kPa(เกจวัด)450×450×450แอลซีวี-244550×550×550
    อ่านเพิ่มเติม
  • โซลูชันการทดสอบสภาพแวดล้อมพลังงานใหม่ โซลูชันการทดสอบสภาพแวดล้อมพลังงานใหม่
    Dec 10, 2024
    โซลูชันการทดสอบสภาพแวดล้อมพลังงานใหม่ปัญหาความน่าเชื่อถือของพลังงานใหม่ยังคงเป็นเรื่องยาก และระบบตรวจจับแบบบูรณาการของความเครียดทางไฟฟ้าและความเครียดด้านสิ่งแวดล้อมจะมอบวิธีที่ดีที่สุดสำหรับการวิจัยและพัฒนาและการผลิตอุตสาหกรรมวัตถุทดสอบใช้เทคโนโลยีสารละลายพลังงานใหม่แบตเตอรี่ (แบตเตอรี่สำรอง)ตรวจสอบการทดสอบการชาร์จและการคายประจุห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น) ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (และความชื้น) อย่างรวดเร็ว ประเมินการทดสอบลักษณะเฉพาะ ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (และความชื้น) อย่างรวดเร็ว เซลล์เชื้อเพลิง/ทนทานต่ออุณหภูมิห้องทดสอบอุณหภูมิต่ำพิเศษขนาดเล็กห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น) ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (และความชื้น) อย่างรวดเร็ว 
    อ่านเพิ่มเติม
  • โซลูชันการทดสอบสภาพแวดล้อมการสื่อสารข้อมูล โซลูชันการทดสอบสภาพแวดล้อมการสื่อสารข้อมูล
    Dec 09, 2024
    โซลูชันการทดสอบสภาพแวดล้อมการสื่อสารข้อมูลจากการวิเคราะห์ทางสถิติพบว่าความล้มเหลวของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์คิดเป็นร้อยละ 50 ของความล้มเหลวของเครื่องจักรอิเล็กทรอนิกส์ทั้งหมด และเทคโนโลยีการตรวจจับความน่าเชื่อถือยังคงเผชิญกับความท้าทายมากมายอุตสาหกรรมวัตถุทดสอบใช้เทคโนโลยีสารละลายการสื่อสารไอทีอุปกรณ์สวิตชิ่งเกียร์ตรวจสอบการทดสอบการวางที่อุณหภูมิสูงห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น)การทดสอบความชราห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น)ประเมินการทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น)การทดสอบเทลคอร์เดียห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น)การทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (และความชื้น) อย่างรวดเร็ว เทอร์มินัลการสื่อสารเคลื่อนที่ตรวจสอบทดสอบการทำงานเสร็จสิ้นห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น)ทดสอบการทำงานเสร็จสิ้น ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (และความชื้น) อย่างรวดเร็ว ประเมินการทดสอบอุณหภูมิและความชื้นห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น)คอมพิวเตอร์ตรวจสอบการคัดกรองผลิตภัณฑ์สำเร็จรูป ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (และความชื้น) อย่างรวดเร็ว การทดสอบการวางที่อุณหภูมิสูงห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น)การทดสอบความชราห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น)อุปกรณ์จัดเก็บข้อมูลภายนอกคอมพิวเตอร์ตรวจสอบการคัดกรองส่วนประกอบห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น)การคัดกรองส่วนประกอบ ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (และความชื้น) อย่างรวดเร็ว ประเมินรับรองการทดสอบการทำงานภายในช่วงอุณหภูมิและความชื้นห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (และความชื้น)รับรองการทดสอบการทำงานภายในช่วงอุณหภูมิและความชื้น ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (และความชื้น) อย่างรวดเร็ว 
    อ่านเพิ่มเติม
  • การทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (TC) และการทดสอบการช็อกจากความร้อน (TS) การทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (TC) และการทดสอบการช็อกจากความร้อน (TS)
    Nov 19, 2024
    การทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (TC) และการทดสอบการช็อกจากความร้อน (TS)การทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ (TC):ในวงจรชีวิตของผลิตภัณฑ์อาจต้องเผชิญกับสภาวะแวดล้อมต่างๆ ที่ทำให้ผลิตภัณฑ์อยู่ในส่วนที่เปราะบาง ส่งผลให้ผลิตภัณฑ์เสียหายหรือล้มเหลว และส่งผลกระทบต่อความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ การทดสอบแบบวงจรอุณหภูมิสูงและต่ำจะดำเนินการกับการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิที่อัตราการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ 5~15 องศาต่อนาที ซึ่งไม่ใช่การจำลองสถานการณ์จริง จุดประสงค์คือเพื่อเพิ่มแรงกดให้กับชิ้นทดสอบ เร่งปัจจัยการเสื่อมสภาพของชิ้นทดสอบ เพื่อให้ชิ้นทดสอบอาจทำให้อุปกรณ์ระบบและส่วนประกอบเสียหายภายใต้ปัจจัยด้านสิ่งแวดล้อม เพื่อตรวจสอบว่าชิ้นทดสอบได้รับการออกแบบหรือผลิตขึ้นอย่างถูกต้องหรือไม่ อันที่พบบ่อยมีดังนี้:ฟังก์ชั่นไฟฟ้าของผลิตภัณฑ์สารหล่อลื่นเสื่อมและสูญเสียการหล่อลื่นสูญเสียความแข็งแรงทางกล ส่งผลให้เกิดรอยแตกร้าวและรอยร้าวการเสื่อมสภาพของวัสดุทำให้เกิดปฏิกิริยาเคมี ขอบเขตการใช้งาน :การทดสอบจำลองสภาพแวดล้อมของผลิตภัณฑ์โมดูล/ระบบการทดสอบ Strife ของผลิตภัณฑ์โมดูล/ระบบการทดสอบความเค้นเร่ง PCB/PCBA/ข้อต่อบัดกรี (ALT/AST)... การทดสอบการช็อกความร้อน (TS):ในวงจรชีวิตของผลิตภัณฑ์อาจต้องเผชิญกับสภาวะแวดล้อมต่างๆ ที่ทำให้ผลิตภัณฑ์อยู่ในส่วนที่เปราะบาง ส่งผลให้ผลิตภัณฑ์เสียหายหรือล้มเหลว และส่งผลกระทบต่อความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ การทดสอบแรงกระแทกที่อุณหภูมิสูงและต่ำภายใต้สภาวะที่รุนแรงอย่างยิ่งต่อการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็วที่อุณหภูมิเปลี่ยนแปลง 40 องศาต่อนาทีไม่ได้จำลองขึ้นอย่างแท้จริง จุดประสงค์คือเพื่อเพิ่มแรงกดที่รุนแรงให้กับชิ้นทดสอบเพื่อเร่งปัจจัยการเสื่อมสภาพของชิ้นทดสอบ เพื่อให้ชิ้นทดสอบอาจทำให้เกิดความเสียหายที่อาจเกิดขึ้นกับอุปกรณ์ระบบและส่วนประกอบภายใต้ปัจจัยด้านสิ่งแวดล้อม เพื่อตรวจสอบว่าชิ้นทดสอบได้รับการออกแบบหรือผลิตขึ้นอย่างถูกต้องหรือไม่ อันที่พบบ่อยมีดังนี้:ฟังก์ชั่นไฟฟ้าของผลิตภัณฑ์โครงสร้างสินค้าชำรุดหรือความแข็งแรงลดลงการแตกร้าวของชิ้นส่วนดีบุกการเสื่อมสภาพของวัสดุทำให้เกิดปฏิกิริยาเคมีความเสียหายของซีล ข้อมูลจำเพาะของเครื่อง:ช่วงอุณหภูมิ: -60°C ถึง +150°Cระยะเวลาการฟื้นตัว: < 5 นาทีขนาดภายใน : 370*350*330มม. (ลึก×กว้าง×สูง) ขอบเขตการใช้งาน :การทดสอบการเร่งความเร็วความน่าเชื่อถือของ PCBการทดสอบอายุใช้งานที่เร็วขึ้นของโมดูลไฟฟ้าของยานพาหนะทดสอบเร่งชิ้นส่วน LED... ผลกระทบจากการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิต่อผลิตภัณฑ์:ชั้นเคลือบของส่วนประกอบหลุดออก วัสดุอุดและสารปิดผนึกแตกร้าว แม้แต่เปลือกปิดผนึกก็แตกร้าว และวัสดุอุดก็รั่วซึม ส่งผลให้ประสิทธิภาพทางไฟฟ้าของส่วนประกอบลดลงผลิตภัณฑ์ที่ประกอบด้วยวัสดุที่แตกต่างกัน เมื่ออุณหภูมิเปลี่ยนแปลง ผลิตภัณฑ์จะไม่ได้รับความร้อนสม่ำเสมอ ส่งผลให้ผลิตภัณฑ์ผิดรูป ผลิตภัณฑ์ปิดผนึกแตกร้าว แก้วหรือภาชนะแก้วและเลนส์แตกความแตกต่างของอุณหภูมิที่มากทำให้พื้นผิวของผลิตภัณฑ์ควบแน่นหรือแข็งตัวที่อุณหภูมิต่ำ ระเหยหรือละลายที่อุณหภูมิสูง และผลจากการกระทำซ้ำๆ ดังกล่าวทำให้เกิดการกัดกร่อนของผลิตภัณฑ์และเร่งให้เกิดการกัดกร่อนเร็วขึ้น ผลกระทบต่อสิ่งแวดล้อมจากการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ:กระจกแตกและอุปกรณ์ออปติกส่วนที่เคลื่อนไหวติดหรือหลวมโครงสร้างทำให้เกิดการแบ่งแยกการเปลี่ยนแปลงทางไฟฟ้าความล้มเหลวทางไฟฟ้าหรือทางกลเนื่องจากการควบแน่นหรือการแข็งตัวอย่างรวดเร็วแตกหักเป็นเม็ดหรือมีริ้วลักษณะการหดตัวหรือขยายตัวของวัสดุแต่ละชนิดแตกต่างกันส่วนประกอบมีการผิดรูปหรือแตกหักรอยแตกร้าวในผิวเคลือบมีอากาศรั่วในช่องกักเก็บ
    อ่านเพิ่มเติม
  • ห้องทดสอบอุณหภูมิแบบหมุนเวียนอย่างรวดเร็วสำหรับ Lab Companion ห้องทดสอบอุณหภูมิแบบหมุนเวียนอย่างรวดเร็วสำหรับ Lab Companion
    Nov 13, 2024
    ห้องทดสอบอุณหภูมิแบบหมุนเวียนอย่างรวดเร็วสำหรับ Lab Companionการแนะนำ Lab Companionด้วยประสบการณ์ยาวนานกว่า 20 ปี เพื่อนร่วมห้องแล็ป เป็นผู้ผลิตห้องทดสอบสิ่งแวดล้อมระดับโลกและเป็นซัพพลายเออร์ระบบและอุปกรณ์ทดสอบแบบครบวงจรที่เชี่ยวชาญ ห้องทดสอบทั้งหมดของเราสร้างขึ้นจากชื่อเสียงของ Lab Companion ในด้านอายุการใช้งานยาวนานและความน่าเชื่อถือที่ยอดเยี่ยม ด้วยขอบเขตของการออกแบบ การผลิต และการบริการ Lab Companion ได้จัดทำระบบการจัดการคุณภาพที่สอดคล้องกับมาตรฐานระบบคุณภาพสากล ISO 9001:2008 โปรแกรมการสอบเทียบอุปกรณ์ของ Lab Companion ได้รับการรับรองมาตรฐานสากล ISO 17025 และมาตรฐานแห่งชาติอเมริกัน ANSI/NCSL-Z-540-1 โดย A2LA A2LA เป็นสมาชิกเต็มตัวและเป็นผู้ลงนามใน International Laboratory Accreditation Cooperation (ILAC), Asia Pacific Laboratory Accreditation (APLAC) และ European Cooperation for Accreditation (EA) ห้องทดสอบสิ่งแวดล้อม SE-Series ของ Lab Companion นำเสนอระบบการไหลเวียนของอากาศที่ได้รับการปรับปรุงให้ดีขึ้นอย่างมาก ซึ่งช่วยให้เกิดการไล่ระดับที่ดีขึ้นและอัตราการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิของผลิตภัณฑ์ที่ดีขึ้น ห้องทดสอบเหล่านี้ใช้โปรแกรมเมอร์/คอนโทรลเลอร์รุ่นเรือธง 8800 ของ Thermotron ซึ่งมีหน้าจอแบนขนาด 12.1 นิ้วความละเอียดสูงพร้อมอินเทอร์เฟซผู้ใช้แบบหน้าจอสัมผัส ความสามารถที่เพิ่มขึ้นสำหรับการสร้างกราฟ บันทึกข้อมูล แก้ไข เข้าถึงความช่วยเหลือบนหน้าจอ และจัดเก็บข้อมูลฮาร์ดไดรฟ์ในระยะยาวเราไม่เพียงแต่เสนอผลิตภัณฑ์คุณภาพสูงสุดเท่านั้น แต่เรายังให้การสนับสนุนอย่างต่อเนื่องที่ออกแบบมาเพื่อให้คุณใช้งานได้ยาวนานหลังการขายครั้งแรก เรามอบบริการในพื้นที่โดยตรงจากโรงงานพร้อมสินค้าคงคลังที่คุณอาจต้องการมากมาย ผลงานช่วงอุณหภูมิ: -70°C ถึง +180°Cประสิทธิภาพ: เมื่อรับน้ำหนักอลูมิเนียม 23 กก. (IEC60068-3-5) อัตราการเพิ่มอุณหภูมิจาก +85°C ถึง -40°C คือ 15℃/นาที และอัตราการทำความเย็นจาก -40°C ถึง +85°C คือ 15℃/นาที เช่นกันการควบคุมอุณหภูมิ: ± 1°C อุณหภูมิหลอดแห้งจากจุดควบคุมหลังจากการทำให้เสถียรที่เซ็นเซอร์ควบคุมประสิทธิภาพขึ้นอยู่กับสภาวะแวดล้อมที่ 75°F (23.9°C) และความชื้นสัมพัทธ์ 50%ประสิทธิภาพการทำความเย็น/ทำความร้อนขึ้นอยู่กับการวัดที่เซ็นเซอร์ควบคุมในกระแสอากาศจ่ายโครงสร้างภายในสแตนเลสสตีลซีรีส์ 300 ที่ไม่เป็นแม่เหล็กซึ่งมีปริมาณนิกเกิลสูงตะเข็บภายในเชื่อมด้วยเทคนิคเฮเลียร์คเพื่อปิดผนึกซับในอย่างแน่นหนามุมและตะเข็บได้รับการออกแบบให้สามารถขยายและหดตัวได้ภายใต้สภาวะอุณหภูมิที่รุนแรงท่อระบายน้ำควบแน่นอยู่ที่พื้นซับและอยู่ใต้ท่อรวมปรับอากาศฐานห้องเชื่อมเต็มฉนวนใยแก้วชนิดไม่ทรุดตัว “Ultra-Lite”ชั้นวางภายในสแตนเลสแบบปรับได้ 1 ชั้นเป็นมาตรฐานภายนอกแผ่นเหล็กเคลือบแม่พิมพ์มีฝาปิดโลหะสำหรับเปิดประตูส่วนประกอบไฟฟ้าได้อย่างง่ายดายเคลือบเงาแบบน้ำ แห้งด้วยอากาศ พ่นลงบนพื้นผิวที่ทำความสะอาดและลงรองพื้นแล้วประตูบานพับแบบยกออกง่ายสำหรับการซ่อมบำรุงระบบทำความเย็นพอร์ตเข้าถึงขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 12.5 ซม. หนึ่งพอร์ตพร้อมการเชื่อมภายในและปลั๊กฉนวนที่ถอดออกได้ ติดตั้งที่อุปกรณ์เสริมผนังด้านขวาบนประตูบานพับเพื่อการเข้าถึงที่ง่ายดายคุณสมบัติการทำงานของห้องแสดงข้อมูลการทำงานที่เป็นประโยชน์อย่างชัดเจนหน้าจอแสดงกราฟช่วยเพิ่มความสามารถ การเขียนโปรแกรมและการรายงานที่ได้รับการปรับปรุงสถานะระบบแสดงพารามิเตอร์ระบบทำความเย็นที่สำคัญการป้อนโปรแกรมทำให้การโหลด ดู และแก้ไขโปรไฟล์เป็นเรื่องง่ายตั้งค่าตัวช่วยขั้นตอนด่วนเพื่อให้การป้อนโปรไฟล์เป็นเรื่องง่ายแผนภูมิการทำความเย็นแบบป๊อปอัปเพื่อใช้เป็นข้อมูลอ้างอิงTherm-Alarm® ให้การป้องกันสัญญาณเตือนอุณหภูมิสูงหรือต่ำเกินไปหน้าจอบันทึกกิจกรรมแสดงประวัติอุปกรณ์อย่างครบถ้วนเว็บเซิร์ฟเวอร์ช่วยให้สามารถเข้าถึงอุปกรณ์ผ่านอินเทอร์เน็ตอีเทอร์เน็ตแผงปุ่มแบบป๊อปอัปที่ใช้งานง่ายช่วยให้ป้อนข้อมูลได้อย่างรวดเร็วและง่ายดายรวมถึง:- พอร์ต USB สี่พอร์ต - พอร์ตภายนอกสองพอร์ต และพอร์ตภายในสองพอร์ต- อีเทอร์เน็ต- อาร์เอส-232ข้อมูลทางเทคนิคช่องโปรแกรมอิสระ 1-4 ช่องความแม่นยำในการวัด: 0.25% ของช่วงโดยทั่วไปเลือกระดับอุณหภูมิได้เป็น °C หรือ °Fหน้าจอสัมผัสแบบแบนสีขนาด 12.1 นิ้ว (30 ซม.)ความละเอียด: 0.1°C, 0.1%RH, 0.01 สำหรับการใช้งานเชิงเส้นอื่นๆมีนาฬิกาเรียลไทม์รวมอยู่ด้วยอัตราตัวอย่าง: ตัวแปรกระบวนการสุ่มตัวอย่างทุก ๆ 0.1 วินาทีแบนด์ตามสัดส่วน: ตั้งโปรแกรมได้ 1.0° ถึง 300°วิธีการควบคุม: ดิจิตอลระยะเวลา: ไม่จำกัดความละเอียดช่วงเวลา: 1 วินาทีถึง 99 ชั่วโมง 59 นาที โดยมีความละเอียด 1 วินาที- อาร์เอส-232- จัดเก็บข้อมูลได้มากกว่า 10 ปี- การควบคุมอุณหภูมิผลิตภัณฑ์- บอร์ดรีเลย์อีเว้นท์โหมดการทำงาน: อัตโนมัติหรือด้วยตนเองพื้นที่จัดเก็บโปรแกรม: ไม่จำกัดลูปโปรแกรม:- สูงสุด 64 ลูปต่อโปรแกรมสามารถทำซ้ำลูปได้สูงสุด 9,999 ครั้งโปรแกรม- อนุญาตให้มีลูปซ้อนกันได้สูงสุด 64 ลูปต่อ
    อ่านเพิ่มเติม
  • การทดสอบเสถียรภาพของยา การทดสอบเสถียรภาพของยา
    Oct 31, 2024
    การทดสอบเสถียรภาพของยาประสิทธิภาพและความปลอดภัยของยาได้รับความสนใจเป็นอย่างมาก และยังเป็นประเด็นด้านการดำรงชีพที่ประเทศและรัฐบาลให้ความสำคัญเป็นอย่างยิ่ง ความเสถียรของยาจะส่งผลต่อประสิทธิผลและความปลอดภัย เพื่อให้แน่ใจถึงคุณภาพของยาและภาชนะบรรจุยา ควรทำการทดสอบความเสถียรเพื่อกำหนดเวลาที่มีประสิทธิภาพและสถานะการจัดเก็บยา การทดสอบความเสถียรส่วนใหญ่ศึกษาว่าคุณภาพของยาได้รับผลกระทบจากปัจจัยด้านสิ่งแวดล้อม เช่น อุณหภูมิ ความชื้น และแสงหรือไม่ และเปลี่ยนแปลงไปตามเวลาและความสัมพันธ์ระหว่างปัจจัยเหล่านี้หรือไม่ และศึกษาเส้นโค้งการเสื่อมสภาพของยา ซึ่งใช้เป็นเกณฑ์ในการกำหนดระยะเวลาที่มีประสิทธิภาพเพื่อให้แน่ใจถึงประสิทธิผลและความปลอดภัยของยาเมื่อใช้งาน บทความนี้รวบรวมข้อมูลมาตรฐานและวิธีการทดสอบที่จำเป็นสำหรับการทดสอบความเสถียรต่างๆ เพื่อให้ลูกค้าอ้างอิงได้ประการแรกเกณฑ์การทดสอบความคงตัวของยาสภาวะการเก็บรักษายา : เงื่อนไขการเก็บรักษา (หมายเหตุ 2)การทดลองระยะยาว25℃±2℃ / 60%±5%RH หรือ 30℃±2℃ /ความชื้นสัมพัทธ์ 65%±5%การทดสอบแบบเร่งรัด40℃±2℃ / ความชื้นสัมพัทธ์ 75%±5%การทดสอบกลาง (หมายเหตุ 1)30℃±2℃ / ความชื้นสัมพัทธ์ 65%±5%หมายเหตุ 1: หากกำหนดเงื่อนไขการทดสอบระยะยาวไว้ที่ 30℃±2℃/65% ±5%RH จะไม่มีการทดสอบกลาง หากเงื่อนไขการจัดเก็บระยะยาวอยู่ที่ 25℃±2℃/60% ±5%RH และมีการเปลี่ยนแปลงที่สำคัญในการทดสอบเร่ง ก็ควรเพิ่มการทดสอบกลาง และควรประเมินตามเกณฑ์ของ "การเปลี่ยนแปลงที่สำคัญ"หมายเหตุ 2: ภาชนะที่ปิดสนิทและกันน้ำได้ เช่น หลอดแก้ว สามารถได้รับการยกเว้นจากสภาวะความชื้นได้ เว้นแต่จะกำหนดไว้เป็นอย่างอื่น การทดสอบทั้งหมดจะต้องดำเนินการตามแผนการทดสอบความเสถียรในการทดสอบระหว่างกาลข้อมูลการทดสอบแบบเร่งรัดควรพร้อมใช้งานเป็นเวลาหกเดือน ระยะเวลาขั้นต่ำของการทดสอบความเสถียรคือ 12 เดือนสำหรับการทดสอบระยะกลางและการทดสอบระยะยาว เก็บในตู้เย็น: เงื่อนไขการจัดเก็บการทดลองระยะยาว5℃±3℃การทดสอบแบบเร่งรัด25℃±2℃ / ความชื้นสัมพัทธ์ 60%±5% เก็บไว้ในช่องแช่แข็ง: เงื่อนไขการจัดเก็บการทดลองระยะยาว-20℃±5℃การทดสอบแบบเร่งรัด5℃±3℃หากผลิตภัณฑ์ที่มีน้ำหรือตัวทำละลายที่อาจสูญเสียตัวทำละลายได้บรรจุอยู่ในภาชนะกึ่งซึมผ่านได้ ควรทำการประเมินเสถียรภาพภายใต้ความชื้นสัมพัทธ์ต่ำเป็นเวลานาน หรือการทดสอบกลาง 12 เดือน และการทดสอบเร่ง 6 เดือน เพื่อพิสูจน์ว่ายาที่วางในภาชนะกึ่งซึมผ่านได้นั้นสามารถทนต่อสภาพแวดล้อมที่มีความชื้นสัมพัทธ์ต่ำได้ ที่ประกอบด้วยน้ำหรือตัวทำละลาย เงื่อนไขการจัดเก็บการทดลองระยะยาว25℃±2℃ / 40%±5%RH หรือ 30℃±2℃ /ความชื้นสัมพัทธ์ 35%±5% การทดสอบแบบเร่งรัด40℃±2℃; ≤25%ความชื้นสัมพัทธ์การทดสอบกลาง (หมายเหตุ 1)30℃±2℃ / ความชื้นสัมพัทธ์ 35%±5%หมายเหตุ 1: หากสภาวะการทดสอบในระยะยาวอยู่ที่ 30℃±2℃ / 35%±5%RH จะไม่มีการทดสอบกลาง การคำนวณอัตราการสูญเสียน้ำสัมพันธ์ที่อุณหภูมิคงที่ 40℃ มีดังนี้ความชื้นสัมพัทธ์ทดแทน (A)ควบคุมความชื้นสัมพัทธ์ (R)อัตราการสูญเสียน้ำ ([1-R]/[1-A])ความชื้นสัมพัทธ์ 60%ความชื้นสัมพัทธ์ 25%1.9ความชื้นสัมพัทธ์ 60%ความชื้นสัมพัทธ์ 40%1.5ความชื้นสัมพัทธ์ 65%ความชื้นสัมพัทธ์ 35%1.9ความชื้นสัมพัทธ์ 75%ความชื้นสัมพัทธ์ 25%3.0ภาพประกอบ: สำหรับยาที่อยู่ในน้ำซึ่งบรรจุอยู่ในภาชนะกึ่งซึมผ่านได้ อัตราการสูญเสียน้ำที่ความชื้นสัมพัทธ์ 25% จะเท่ากับ 3 เท่าของความชื้นสัมพัทธ์ 75% ประการที่สอง การแก้ปัญหาเสถียรภาพของยาเกณฑ์การทดสอบความคงตัวของยาทั่วไป(ที่มา: สำนักงานคณะกรรมการอาหารและยา กระทรวงสาธารณสุข)รายการเงื่อนไขการจัดเก็บการทดลองระยะยาว25°C /ความชื้นสัมพัทธ์ 60%การทดสอบแบบเร่งรัด40°C /ความชื้นสัมพัทธ์ 75%การทดสอบกลาง30°C/65%RH (1) การทดสอบช่วงอุณหภูมิที่กว้างรายการเงื่อนไขการจัดเก็บการทดลองระยะยาวสภาวะอุณหภูมิต่ำหรือต่ำกว่าศูนย์การทดสอบแบบเร่งรัดอุณหภูมิห้องและความชื้นหรือสภาวะอุณหภูมิต่ำ (2) อุปกรณ์ทดสอบ1. ห้องทดสอบอุณหภูมิและความชื้นคงที่2. ห้องทดสอบความคงตัวของยา
    อ่านเพิ่มเติม
1 2
รวมทั้งหมด2หน้า

ฝากข้อความ

ฝากข้อความ
หากคุณสนใจผลิตภัณฑ์ของเราและต้องการทราบรายละเอียดเพิ่มเติม โปรดฝากข้อความไว้ที่นี่ เราจะตอบกลับคุณโดยเร็วที่สุด
ส่ง

บ้าน

สินค้า

วอทส์แอพพ์

ติดต่อเรา