ห้องทดสอบความชื้นอุณหภูมิสูงและต่ำ

• การทดสอบการพาความร้อนตามธรรมชาติ (การทดสอบอุณหภูมิโดยไม่มีการหมุนเวียนของลม) และข้อมูลจำเพาะ

  Oct 18, 2024

  การทดสอบการพาความร้อนตามธรรมชาติ (การทดสอบอุณหภูมิโดยไม่มีการหมุนเวียนของลม) และข้อมูลจำเพาะอุปกรณ์โสตทัศนูปกรณ์เพื่อความบันเทิงภายในบ้านและอิเล็กทรอนิกส์ยานยนต์เป็นหนึ่งในผลิตภัณฑ์หลักของผู้ผลิตหลายราย และผลิตภัณฑ์ในกระบวนการพัฒนาจะต้องจำลองความสามารถในการปรับตัวของผลิตภัณฑ์ให้เข้ากับอุณหภูมิและคุณลักษณะทางอิเล็กทรอนิกส์ที่อุณหภูมิที่แตกต่างกัน อย่างไรก็ตาม เมื่อใช้เตาอบทั่วไปหรือห้องทดสอบอุณหภูมิและความชื้นคงที่เพื่อจำลองสภาพแวดล้อมอุณหภูมิ ทั้งเตาอบและห้องทดสอบอุณหภูมิและความชื้นคงที่ต่างก็มีพื้นที่ทดสอบที่ติดตั้งพัดลมหมุนเวียน ดังนั้นจะมีปัญหาความเร็วลมในพื้นที่ทดสอบ ในระหว่างการทดสอบ ความสม่ำเสมอของอุณหภูมิจะสมดุลกันโดยการหมุนพัดลมหมุนเวียน แม้ว่าความสม่ำเสมอของอุณหภูมิในพื้นที่ทดสอบสามารถทำได้โดยการหมุนเวียนของลม แต่ความร้อนของผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบก็จะถูกดูดออกไปโดยอากาศหมุนเวียนด้วย ซึ่งจะไม่สม่ำเสมออย่างมากกับผลิตภัณฑ์จริงในสภาพแวดล้อมการใช้งานที่ไม่มีลม (เช่น ห้องนั่งเล่น ในร่ม) เนื่องจากความสัมพันธ์ของการหมุนเวียนของลม ความแตกต่างของอุณหภูมิของผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบจะอยู่ที่ประมาณ 10 ° C เพื่อจำลองการใช้งานจริงของสภาพแวดล้อม หลายคนจะเข้าใจผิดว่ามีเพียงเครื่องทดสอบเท่านั้นที่สามารถผลิตอุณหภูมิ (เช่น เตาอบ ห้องทดสอบอุณหภูมิและความชื้นคงที่) สามารถทำการทดสอบการพาความร้อนตามธรรมชาติได้ ในความเป็นจริง ไม่เป็นเช่นนั้น ในข้อกำหนด มีข้อกำหนดพิเศษสำหรับความเร็วลม และจำเป็นต้องมีสภาพแวดล้อมการทดสอบที่ไม่มีความเร็วลม ผ่านอุปกรณ์ทดสอบการพาความร้อนตามธรรมชาติ (ไม่มีการทดสอบการหมุนเวียนของลมแบบบังคับ) สภาพแวดล้อมอุณหภูมิจะถูกสร้างขึ้นโดยไม่มีพัดลม (การทดสอบการพาความร้อนตามธรรมชาติ) จากนั้นจึงดำเนินการทดสอบการบูรณาการการทดสอบเพื่อตรวจจับอุณหภูมิของผลิตภัณฑ์ที่ทดสอบ โซลูชันนี้สามารถนำไปใช้กับการทดสอบอุณหภูมิแวดล้อมจริงของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ที่เกี่ยวข้องกับครัวเรือนหรือพื้นที่จำกัด (เช่น ทีวี LCD ขนาดใหญ่ ห้องโดยสารรถยนต์ อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ในรถยนต์ แล็ปท็อป คอมพิวเตอร์เดสก์ท็อป คอนโซลเกม สเตอริโอ ฯลฯ)ความแตกต่างของสภาพแวดล้อมในการทดสอบที่มีหรือไม่มีการหมุนเวียนของลมในการทดสอบผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบ:หากผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบไม่ได้รับพลังงาน ผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบจะไม่ร้อนขึ้นเอง แหล่งความร้อนจะดูดซับความร้อนจากอากาศในเตาทดสอบเท่านั้น และหากผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบได้รับพลังงานและความร้อน การหมุนเวียนของลมในเตาทดสอบจะดึงความร้อนของผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบออกไป ทุกๆ 1 เมตรที่เพิ่มขึ้นของความเร็วลม ความร้อนจะลดลงประมาณ 10% สมมติว่าจำลองลักษณะอุณหภูมิของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ในสภาพแวดล้อมในร่มที่ไม่มีเครื่องปรับอากาศ หากใช้เตาอบหรือห้องทดสอบอุณหภูมิและความชื้นคงที่เพื่อจำลองอุณหภูมิ 35 ° C แม้ว่าจะสามารถควบคุมสภาพแวดล้อมในพื้นที่ทดสอบได้ภายใน 35 ° C โดยการทำความร้อนด้วยไฟฟ้าและการแช่แข็ง แต่การหมุนเวียนของลมในเตาอบและห้องทดสอบอุณหภูมิและความชื้นคงที่จะดึงความร้อนของผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบออกไป ทำให้อุณหภูมิจริงของผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบต่ำกว่าอุณหภูมิในสถานะจริงที่ไม่มีลม ดังนั้นจึงจำเป็นต้องใช้เครื่องทดสอบการพาความร้อนตามธรรมชาติโดยไม่มีความเร็วลม เพื่อจำลองสภาพแวดล้อมที่ไม่มีลมจริงได้อย่างมีประสิทธิภาพ (เช่น ในร่ม ห้องโดยสารรถที่ไม่สตาร์ท ตัวถังเครื่องมือ กล่องกันน้ำกลางแจ้ง... สภาพแวดล้อมดังกล่าว)สภาพแวดล้อมภายในอาคารที่ไม่มีการหมุนเวียนของลมและการแผ่รังสีความร้อนจากแสงอาทิตย์:ผ่านเครื่องทดสอบการพาความร้อนตามธรรมชาติ จำลองการใช้งานจริงของลูกค้าในสภาพแวดล้อมการพาความร้อนของเครื่องปรับอากาศ วิเคราะห์จุดร้อน และลักษณะการกระจายความร้อนของการประเมินผลิตภัณฑ์ เช่น ทีวี LCD ในภาพไม่เพียงแต่พิจารณาการกระจายความร้อนของตัวเองเท่านั้น แต่ยังประเมินผลกระทบของรังสีความร้อนภายนอกหน้าต่างด้วย รังสีความร้อนสำหรับผลิตภัณฑ์อาจทำให้เกิดความร้อนแผ่กระจายเพิ่มเติมที่อุณหภูมิสูงกว่า 35°Cตารางเปรียบเทียบความเร็วลมและผลิตภัณฑ์ IC ที่จะทดสอบ:เมื่อความเร็วลมโดยรอบสูงขึ้น อุณหภูมิพื้นผิว IC จะดึงความร้อนบนพื้นผิว IC จากรอบลมออกไปด้วย ส่งผลให้ความเร็วลมสูงขึ้นและอุณหภูมิต่ำลง โดยเมื่อความเร็วลมอยู่ที่ 0 อุณหภูมิจะอยู่ที่ 100℃ แต่เมื่อความเร็วลมถึง 5m/s อุณหภูมิพื้นผิว IC จะอยู่ต่ำกว่า 80℃การทดสอบการไหลเวียนของอากาศแบบไม่บังคับ:ตามข้อกำหนดเฉพาะของ IEC60068-2-2 ในกระบวนการทดสอบอุณหภูมิสูง จำเป็นต้องดำเนินการภายใต้เงื่อนไขการทดสอบโดยไม่มีการหมุนเวียนอากาศบังคับ กระบวนการทดสอบจำเป็นต้องคงอยู่ภายใต้ส่วนประกอบการหมุนเวียนอากาศปลอดลม และการทดสอบอุณหภูมิสูงจะดำเนินการในเตาทดสอบ ดังนั้นจึงไม่สามารถดำเนินการทดสอบผ่านห้องทดสอบหรือเตาอบที่มีอุณหภูมิและความชื้นคงที่ได้ และสามารถใช้เครื่องทดสอบการพาความร้อนตามธรรมชาติเพื่อจำลองสภาวะอากาศปลอดลมได้คำอธิบายเงื่อนไขการทดสอบ:ข้อกำหนดการทดสอบการไหลเวียนอากาศแบบไม่บังคับ: มอก.68-2-2, มอก.2423.2, มอก.2423.2-89 3.3.1การทดสอบการไหลเวียนของอากาศแบบไม่บังคับ: สภาพการทดสอบการไหลเวียนอากาศแบบไม่บังคับสามารถจำลองสภาพอากาศอิสระได้ดีGB2423.2-89 3.1.1:เมื่อทำการวัดภายใต้สภาวะอากาศอิสระ เมื่ออุณหภูมิของตัวอย่างทดสอบมีเสถียรภาพ อุณหภูมิของจุดที่ร้อนที่สุดบนพื้นผิวจะสูงกว่าอุณหภูมิของอุปกรณ์ขนาดใหญ่โดยรอบมากกว่า 5℃ ถือเป็นตัวอย่างทดสอบการกระจายความร้อน ในกรณีอื่น ๆ ถือเป็นตัวอย่างทดสอบที่ไม่มีการกระจายความร้อนGB2423.2-8 10 (ตัวอย่างการทดสอบการกระจายความร้อน การทดสอบการไล่ระดับอุณหภูมิ) :มีการจัดทำขั้นตอนการทดสอบมาตรฐานเพื่อพิจารณาความสามารถในการปรับตัวของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ความร้อน (รวมถึงส่วนประกอบ อุปกรณ์ ผลิตภัณฑ์อื่นๆ) ในการใช้งานที่อุณหภูมิสูงข้อกำหนดการทดสอบ:ก. เครื่องทดสอบที่ไม่มีการหมุนเวียนอากาศแบบบังคับ (มีพัดลมหรือโบลเวอร์ติดตั้งอยู่)ข. ตัวอย่างทดสอบเดี่ยวc. อัตราความร้อนไม่เกิน 1℃/นาทีง. หลังจากอุณหภูมิของตัวอย่างทดสอบถึงเสถียรภาพแล้ว ตัวอย่างทดสอบจะถูกจ่ายพลังงานหรือดำเนินการโหลดไฟฟ้าภายในบ้านเพื่อตรวจจับประสิทธิภาพไฟฟ้าคุณลักษณะของห้องทดสอบการพาความร้อนแบบธรรมชาติ:1. สามารถประเมินผลผลิตความร้อนของผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบหลังจ่ายไฟ เพื่อให้เกิดความสม่ำเสมอในการกระจายความร้อนที่ดีที่สุด2. ใช้ร่วมกับตัวรวบรวมข้อมูลดิจิทัล ช่วยวัดข้อมูลอุณหภูมิที่เกี่ยวข้องของผลิตภัณฑ์ที่ต้องการทดสอบอย่างมีประสิทธิภาพสำหรับการวิเคราะห์แบบมัลติแทร็กแบบซิงโครนัส3. บันทึกข้อมูลรางมากกว่า 20 ราง (บันทึกการกระจายอุณหภูมิภายในเตาทดสอบแบบซิงโครนัส อุณหภูมิหลายรางของผลิตภัณฑ์ที่ต้องการทดสอบ อุณหภูมิเฉลี่ย ฯลฯ)4. ตัวควบคุมสามารถแสดงค่าบันทึกอุณหภูมิแบบมัลติแทร็กและเส้นโค้งการบันทึกได้โดยตรง สามารถเก็บเส้นโค้งการทดสอบแบบมัลติแทร็กบนไดรฟ์ USB ได้ผ่านตัวควบคุม5. ซอฟต์แวร์วิเคราะห์เส้นโค้งสามารถแสดงเส้นโค้งอุณหภูมิแบบมัลติแทร็กและส่งออกรายงาน EXCEL ได้อย่างชัดเจน และตัวควบคุมมีจอแสดงผลสามแบบ [ภาษาอังกฤษแบบซับซ้อน]6. การเลือกเซนเซอร์อุณหภูมิเทอร์โมคัปเปิลหลายประเภท (B, E, J, K, N, R, S, T)7. ปรับขนาดได้เพื่อเพิ่มอัตราการให้ความร้อนและวางแผนเสถียรภาพการควบคุม

  แท็กยอดนิยม : ห้องทดสอบที่เป็นมิตรกับสิ่งแวดล้อม ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว ห้องทดสอบ SUS#304 ห้องทดสอบความชื้นอุณหภูมิสูงและต่ำ ห้องทดสอบอุณหภูมิแบบตั้งโปรแกรมได้ ห้องหมุนเวียนความร้อน

  อ่านเพิ่มเติม
• เซลล์แสงอาทิตย์แบบคอนเซนเตรเตอร์

  Oct 15, 2024

  เซลล์แสงอาทิตย์แบบคอนเซนเตรเตอร์เซลล์แสงอาทิตย์แบบรวมแสงเป็นการรวมกันของ [Concentrator Photovoltaic] + [Fresnel Lenes] + [Sun Tracker] ประสิทธิภาพการแปลงพลังงานแสงอาทิตย์สามารถเข้าถึง 31% ~ 40.7% ถึงแม้ว่าประสิทธิภาพการแปลงจะสูง แต่เนื่องจากเวลาการมองจากดวงอาทิตย์ที่ยาวนานจึงถูกนำมาใช้ในอุตสาหกรรมอวกาศในอดีตและตอนนี้สามารถใช้ในอุตสาหกรรมการผลิตไฟฟ้าด้วยตัวติดตามแสงแดดซึ่งไม่เหมาะสำหรับครอบครัวทั่วไป วัสดุหลักของเซลล์แสงอาทิตย์แบบรวมแสงคือแกลเลียมอาร์เซไนด์ (GaAs) นั่นคือวัสดุสามกลุ่มห้า (III-V) วัสดุผลึกซิลิคอนทั่วไปสามารถดูดซับพลังงานที่มีความยาวคลื่น 400 ~ 1,100 นาโนเมตรในสเปกตรัมแสงอาทิตย์เท่านั้นและตัวรวมแสงแตกต่างจากเทคโนโลยีแสงอาทิตย์เวเฟอร์ซิลิคอนผ่านสารกึ่งตัวนำแบบมัลติจั๊งก์ชั่นสามารถดูดซับพลังงานสเปกตรัมแสงอาทิตย์ในช่วงที่กว้างขึ้นได้ และการพัฒนาเซลล์แสงอาทิตย์แบบรวมแสงสามจั๊งก์ InGaP/GaAs/Ge ในปัจจุบันสามารถปรับปรุงประสิทธิภาพการแปลงได้อย่างมาก เซลล์แสงอาทิตย์ชนิดรวมแสงสามจุดสามารถดูดซับพลังงานที่ความยาวคลื่น 300 ~ 1900 นาโนเมตร ทำให้ประสิทธิภาพในการแปลงดีขึ้นอย่างมาก และความต้านทานความร้อนของเซลล์แสงอาทิตย์ชนิดรวมแสงยังสูงกว่าเซลล์แสงอาทิตย์ชนิดเวเฟอร์ทั่วไปอีกด้วย

  แท็กยอดนิยม : ห้องทดสอบอุณหภูมิและความชื้นคงที่ ห้องทดสอบการช็อกความร้อน ห้องทดสอบความร้อนและความเย็น ห้องทดสอบความชื้นอุณหภูมิสูงและต่ำ ห้องทดสอบแรงกระแทกร้อนและเย็น ห้องทดสอบความร้อน-ความชื้น

  อ่านเพิ่มเติม
• เงื่อนไขการทดสอบโพลาไรเซอร์

  Oct 09, 2024

  เงื่อนไขการทดสอบโพลาไรเซอร์โพลาไรเซอร์เป็นหนึ่งในชิ้นส่วนพื้นฐานของจอแสดงผลคริสตัลเหลว ซึ่งเป็นแผ่นแสงที่ยอมให้แสงผ่านได้เฉพาะในทิศทางที่กำหนดเท่านั้น ในกระบวนการผลิตแผ่นคริสตัลเหลว ต้องใช้ด้านบนและด้านล่างของแต่ละชิ้นส่วน และวางไว้ในทิศทางที่เหลื่อมกัน ส่วนใหญ่ใช้สำหรับสนามไฟฟ้าและไม่มีสนามไฟฟ้า เมื่อแหล่งกำเนิดแสงสร้างความแตกต่างของเฟสและสถานะของแสงและความมืด เพื่อแสดงคำบรรยายหรือรูปแบบเงื่อนไขการทดสอบที่เกี่ยวข้อง:เนื่องจากโครงสร้างโมเลกุลของไอโอดีนถูกทำลายได้ง่ายภายใต้สภาวะอุณหภูมิและความชื้นสูง ความทนทานของโพลาไรเซอร์ที่ผลิตโดยเทคโนโลยีการย้อมไอโอดีนจึงต่ำ และโดยทั่วไปสามารถตอบสนองได้เพียง:อุณหภูมิสูง: 80℃×500HRร้อนและชื้น: สภาพการทำงานต่ำกว่า 60℃×90%RH×500HRอย่างไรก็ตาม ด้วยการขยายตัวของการใช้งานผลิตภัณฑ์ LCD เงื่อนไขการทำงานที่เปียกและร้อนของผลิตภัณฑ์โพลาไรซ์จึงกลายเป็นที่ต้องการมากขึ้นเรื่อยๆ และมีความต้องการผลิตภัณฑ์แผ่นโพลาไรซ์ที่ทำงานในสภาวะ 100 ° C และ 90% RH และเงื่อนไขสูงสุดในปัจจุบันคือ:อุณหภูมิสูง: 105℃×500HRความชื้นและความร้อน: ข้อกำหนดในการทดสอบต่ำกว่า 90℃×95%RH×500HRการทดสอบความทนทานของโพลาไรเซอร์ประกอบด้วยวิธีการทดสอบสี่วิธี ได้แก่ อุณหภูมิสูง ความร้อนแบบเปียก อุณหภูมิต่ำ และความเย็นและความร้อน โดยการทดสอบที่สำคัญที่สุดคือการทดสอบแบบเปียกและความร้อน การทดสอบอุณหภูมิสูงหมายถึงสภาพการทำงานที่อุณหภูมิสูงของโพลาไรเซอร์ที่อุณหภูมิการอบคงที่ ในปัจจุบัน แบ่งตามเกรดทางเทคนิคของโพลาไรเซอร์ได้ดังนี้:ประเภทสากล: อุณหภูมิในการทำงานคือ 70℃×500HR;ประเภทความทนทานปานกลาง: อุณหภูมิในการทำงานคือ 80℃×500HR;ประเภทความทนทานสูง: อุณหภูมิในการทำงานอยู่ที่ 90℃×500H เหนือเกรดทั้งสามนี้เนื่องจากวัสดุพื้นฐานของฟิล์มโพลาไรซ์ PVA และไอโอดีนและไอโอไดด์เป็นวัสดุที่ไฮโดรไลซ์ได้ง่าย แต่เนื่องจากกาวที่ไวต่อแรงกดที่ใช้ในแผ่นโพลาไรซ์ยังเสื่อมสภาพได้ง่ายภายใต้สภาวะอุณหภูมิสูงและความชื้นสูง สิ่งที่สำคัญที่สุดในการทดสอบสภาพแวดล้อมของแผ่นโพลาไรซ์คืออุณหภูมิสูงและความร้อนจากความชื้น  

  แท็กยอดนิยม : ห้องทดสอบการหมุนเวียนอุณหภูมิ ห้องทดสอบความชื้นอุณหภูมิสูงและต่ำ

  อ่านเพิ่มเติม
• โมดูลโซลาร์เซลล์และไมโครอินเวอร์เตอร์ AC 1

  Oct 09, 2024

  โมดูลโซลาร์เซลล์และไมโครอินเวอร์เตอร์ AC 1พลังงานเอาต์พุตโดยรวมของแผงเซลล์แสงอาทิตย์ลดลงอย่างมาก โดยเฉพาะอย่างยิ่งเนื่องจากความเสียหายของโมดูลบางส่วน (ลูกเห็บ แรงลม ความสั่นสะเทือนของลม แรงหิมะ ฟ้าผ่า) เงาในพื้นที่ สิ่งสกปรก มุมเอียง ทิศทาง อายุที่แตกต่างกัน รอยแตกร้าวเล็กๆ... ปัญหาเหล่านี้จะทำให้เกิดการจัดตำแหน่งการกำหนดค่าระบบที่ไม่ถูกต้อง ส่งผลให้ประสิทธิภาพเอาต์พุตมีข้อบกพร่องลดลง ซึ่งยากที่จะแก้ไขอินเวอร์เตอร์แบบรวมศูนย์แบบดั้งเดิม อัตราส่วนต้นทุนการผลิตพลังงานแสงอาทิตย์: โมดูล (40 ~ 50%) การก่อสร้าง (20 ~ 30%) อินเวอร์เตอร์ (

  แท็กยอดนิยม : ห้องทดสอบการหมุนเวียนอุณหภูมิ ห้องทดสอบความชื้นอุณหภูมิสูงและต่ำ ห้องทดสอบอุณหภูมิคงที่ ห้องทดสอบอุณหภูมิร้อนและเย็น เครื่องทดสอบความร้อนและความเย็น อุปกรณ์ทดสอบการแช่แข็งด้วยความชื้น

  อ่านเพิ่มเติม
• โมดูลโซลาร์เซลล์และไมโครอินเวอร์เตอร์ AC 2

  Oct 08, 2024

  โมดูลโซลาร์เซลล์และไมโครอินเวอร์เตอร์ AC 2ข้อมูลจำเพาะการทดสอบโมดูล AC:การรับรอง ETL: UL 1741, มาตรฐาน CSA 22.2, มาตรฐาน CSA 22.2 หมายเลข 107.1-1, IEEE 1547, IEEE 929โมดูล PV: UL1703จดหมายข่าว: 47CFR, ส่วนที่ 15, ชั้น Bระดับการป้องกันไฟกระชาก: IEEE 62.41 คลาส Bรหัสไฟฟ้าแห่งชาติ: NEC 1999-2008อุปกรณ์ป้องกันอาร์ค: IEEE 1547คลื่นแม่เหล็กไฟฟ้า: BS EN 55022, FCC Class B ต่อ CISPR 22B, EMC 89/336/EEG, EN 50081-1, EN 61000-3-2, EN 50082-2, EN 60950ไมโครอินเวอร์เตอร์ (Micro-inverter) : UL1741-calss Aอัตราความล้มเหลวของส่วนประกอบทั่วไป: MIL HB-217Fข้อมูลจำเพาะอื่นๆ:IEC 503, IEC 62380 IEEE1547, IEEE929, IEEE-P929, IEEE SCC21, ANSI/NFPA-70 NEC690.2, NEC690.5, NEC690.6, NEC690.10, NEC690.11, NEC690.14, NEC690.17, NEC690.18, เอ็นอีซี690.64ข้อมูลจำเพาะหลักของโมดูลโซลาร์เซลล์ AC:อุณหภูมิในการทำงาน: -20℃ ~ 46℃, -40℃ ~ 60℃, -40℃ ~ 65℃, -40℃ ~ 85℃, -20 ~ 90℃แรงดันไฟขาออก: 120/240V, 117V, 120/208Vความถี่กำลังขับ: 60Hzข้อดีของโมดูล AC:1. พยายามเพิ่มการผลิตพลังงานของโมดูลพลังงานอินเวอร์เตอร์แต่ละตัวและติดตามพลังงานสูงสุด เนื่องจากการติดตามจุดพลังงานสูงสุดของส่วนประกอบแต่ละชิ้น ทำให้สามารถปรับปรุงการผลิตพลังงานของระบบโฟโตวอลตาอิคได้อย่างมาก ซึ่งสามารถเพิ่มขึ้นได้ถึง 25%2. โดยปรับแรงดันและกระแสไฟฟ้าของแผงโซลาร์เซลล์แต่ละแถวจนกระทั่งสมดุลกัน เพื่อหลีกเลี่ยงความไม่ตรงกันของระบบ3. แต่ละโมดูลมีฟังก์ชั่นการตรวจสอบเพื่อลดต้นทุนการบำรุงรักษาระบบและทำให้การทำงานมีเสถียรภาพและเชื่อถือได้มากขึ้น4. การกำหนดค่ามีความยืดหยุ่น และขนาดเซลล์แสงอาทิตย์สามารถติดตั้งในตลาดครัวเรือนได้ตามทรัพยากรทางการเงินของผู้ใช้งาน5. ไม่มีแรงดันไฟฟ้าสูง ปลอดภัยต่อการใช้งาน ติดตั้งง่าย รวดเร็ว ต้นทุนการบำรุงรักษาและการติดตั้งต่ำ ลดการพึ่งพาผู้ให้บริการติดตั้ง ทำให้ผู้ใช้สามารถติดตั้งระบบพลังงานแสงอาทิตย์ได้ด้วยตนเอง6. ค่าใช้จ่ายใกล้เคียงกับหรือต่ำกว่าอินเวอร์เตอร์แบบรวมศูนย์7. ติดตั้งง่าย (ลดเวลาในการติดตั้งได้ครึ่งหนึ่ง)8. ลดต้นทุนการจัดหาและติดตั้ง9. ลดต้นทุนโดยรวมของการผลิตพลังงานแสงอาทิตย์10. ไม่มีการเดินสายและโปรแกรมการติดตั้งพิเศษ11. ความล้มเหลวของโมดูล AC ตัวเดียวไม่ส่งผลกระทบต่อโมดูลหรือระบบอื่นๆ12. หากโมดูลผิดปกติ สวิตช์ไฟจะถูกตัดโดยอัตโนมัติ13. จำเป็นต้องใช้เพียงขั้นตอนการขัดจังหวะง่ายๆ สำหรับการบำรุงรักษา14. สามารถติดตั้งได้ทุกทิศทางและจะไม่ส่งผลกระทบต่อโมดูลอื่น ๆ ในระบบ15. สามารถเติมเต็มพื้นที่วางได้ทั้งหมด เพียงวางไว้ข้างใต้16. ลดสะพานระหว่างสาย DC และสายเคเบิล17. ลดการใช้ขั้วต่อ DC (DC connectors)18. ลดการตรวจจับไฟรั่วลงดิน DC และตั้งค่าอุปกรณ์ป้องกัน19. ลดการใช้กล่องรวมสาย DC20. ลดไดโอดบายพาสของโมดูลพลังงานแสงอาทิตย์21. ไม่จำเป็นต้องซื้อ ติดตั้ง และบำรุงรักษาอินเวอร์เตอร์ขนาดใหญ่22. ไม่จำเป็นต้องซื้อแบตเตอรี่23. แต่ละโมดูลได้รับการติดตั้งอุปกรณ์ป้องกันอาร์กซึ่งเป็นไปตามข้อกำหนดของ UL174124. โมดูลสื่อสารโดยตรงผ่านสายไฟฟ้ากระแสสลับโดยไม่ต้องตั้งค่าสายสื่อสารอื่น25. ส่วนประกอบลดลง 40%

  แท็กยอดนิยม : ห้องทดสอบการหมุนเวียนอุณหภูมิ ห้องทดสอบความชื้นอุณหภูมิสูงและต่ำ ห้องทดสอบอุณหภูมิคงที่ ห้องทดสอบอุณหภูมิร้อนและเย็น เครื่องทดสอบความร้อนและความเย็น อุปกรณ์ทดสอบการแช่แข็งด้วยความชื้น

  อ่านเพิ่มเติม
• โมดูลโซลาร์เซลล์และไมโครอินเวอร์เตอร์ AC 3

  Oct 08, 2024

  โมดูลโซลาร์เซลล์และไมโครอินเวอร์เตอร์ AC 3วิธีทดสอบโมดูล AC:1. การทดสอบประสิทธิภาพเอาต์พุต: อุปกรณ์ทดสอบโมดูลที่มีอยู่ สำหรับการทดสอบโมดูลที่ไม่เกี่ยวข้องกับอินเวอร์เตอร์2. การทดสอบความเครียดทางไฟฟ้า: ดำเนินการทดสอบวงจรอุณหภูมิภายใต้เงื่อนไขต่างๆ เพื่อประเมินคุณลักษณะของอินเวอร์เตอร์ภายใต้เงื่อนไขอุณหภูมิการทำงานและอุณหภูมิสแตนด์บาย3. การทดสอบความเค้นทางกล: ค้นหาไมโครอินเวอร์เตอร์ที่มีการยึดเกาะที่อ่อนแอและตัวเก็บประจุที่เชื่อมบนแผงวงจรพิมพ์4. ใช้เครื่องจำลองพลังงานแสงอาทิตย์สำหรับการทดสอบโดยรวม: ต้องใช้เครื่องจำลองพลังงานแสงอาทิตย์แบบพัลส์สถานะคงที่ที่มีขนาดใหญ่และมีความสม่ำเสมอที่ดี5. การทดสอบกลางแจ้ง: บันทึกกราฟเส้น IV เอาต์พุตของโมดูลและกราฟเส้นการแปลงประสิทธิภาพอินเวอร์เตอร์ในสภาพแวดล้อมกลางแจ้ง6. การทดสอบแบบรายบุคคล: ส่วนประกอบแต่ละส่วนของโมดูลจะได้รับการทดสอบแยกกันในห้อง และผลประโยชน์โดยรวมจะคำนวณโดยใช้สูตร7. การทดสอบการรบกวนทางแม่เหล็กไฟฟ้า: เนื่องจากโมดูลมีส่วนประกอบอินเวอร์เตอร์ จึงจำเป็นต้องประเมินผลกระทบต่อ EMC&EMI เมื่อโมดูลทำงานภายใต้เครื่องจำลองแสงแดดสาเหตุความล้มเหลวทั่วไปของโมดูล AC:1.ค่าความต้านทานไม่ถูกต้อง2. ไดโอดถูกกลับขั้ว3. สาเหตุการขัดข้องของอินเวอร์เตอร์: ตัวเก็บประจุไฟฟ้าขัดข้อง ความชื้น ฝุ่นละอองเงื่อนไขการทดสอบโมดูล AC:การทดสอบ HAST: 110℃/85%RH/206 ชม. (ห้องปฏิบัติการแห่งชาติ Sandia)การทดสอบอุณหภูมิสูง (UL1741): 50℃, 60℃วงจรอุณหภูมิ: -40℃←→90℃/200รอบการแช่แข็งแบบเปียก: 85℃/85%RH←→-40℃/10 รอบ, 110 รอบ (การทดสอบ Enphase-ALT)การทดสอบความร้อนแบบเปียก: 85℃/85%RH/1000 ชม.การทดสอบแรงดันสิ่งแวดล้อมหลายประเภท (MEOST): -50℃ ~ 120℃, การสั่นสะเทือน 30G ~ 50Gกันน้ำ: NEMA 6/24 ชั่วโมงการทดสอบฟ้าผ่า: ทนแรงดันไฟกระชากได้สูงถึง 6,000Vอื่นๆ (โปรดดู UL1703): การทดสอบการพ่นน้ำ การทดสอบความแข็งแรงแรงดึง การทดสอบป้องกันการเกิดอาร์กโมดูลที่เกี่ยวข้องกับพลังงานแสงอาทิตย์ MTBF:อินเวอร์เตอร์แบบดั้งเดิม 10 ~ 15 ปี อินเวอร์เตอร์ไมโคร 331 ปี โมดูล PV 600 ปี อินเวอร์เตอร์ไมโคร 600 ปี[อนาคต]การแนะนำไมโครอินเวอร์เตอร์:คำแนะนำ: ไมโครอินเวอร์เตอร์ (ไมโครอินเวอร์เตอร์) ที่ใช้กับโมดูลโซลาร์เซลล์ โดยแต่ละโมดูลโซลาร์เซลล์ DC จะติดตั้งไว้ ซึ่งจะช่วยลดโอกาสเกิดอาร์คได้ ไมโครอินเวอร์เตอร์สามารถเชื่อมต่อโดยตรงผ่านสายจ่ายไฟ AC เพื่อสื่อสารเครือข่ายโดยตรง เพียงแค่ติดตั้ง Powerline Ethernet Bridge (Powerline Ethernet Bridge) บนซ็อกเก็ต ก็ไม่จำเป็นต้องตั้งค่าสายสื่อสารอื่น ผู้ใช้สามารถดูสถานะการทำงานของแต่ละโมดูล (กำลังไฟออก อุณหภูมิของโมดูล ข้อความแจ้งข้อผิดพลาด รหัสระบุโมดูล) ได้โดยตรงผ่านหน้าเว็บคอมพิวเตอร์ iPhone, Blackberry, แท็บเล็ตคอมพิวเตอร์... ฯลฯ หากพบสิ่งผิดปกติ ก็สามารถซ่อมแซมหรือเปลี่ยนใหม่ได้ทันที ทำให้ระบบพลังงานแสงอาทิตย์ทั้งหมดทำงานได้อย่างราบรื่น เนื่องจากไมโครอินเวอร์เตอร์ติดตั้งไว้ด้านหลังโมดูล ดังนั้น ผลของรังสีอัลตราไวโอเลตที่ส่งผลต่อไมโครอินเวอร์เตอร์จึงต่ำเช่นกันข้อมูลจำเพาะไมโครอินเวอร์เตอร์:UL 1741 CSA 22.2, CSA 22.2, หมายเลข 107.1-1 IEEE 1547 IEEE 929 FCC 47CFR, ส่วนที่ 15, คลาส B สอดคล้องกับมาตรฐานไฟฟ้าแห่งชาติ (NEC 1999-2008) EIA-IS-749 (การทดสอบอายุการใช้งานแอปพลิเคชันหลักที่แก้ไข ข้อกำหนดสำหรับการใช้งานตัวเก็บประจุ)การทดสอบไมโครอินเวอร์เตอร์:1. การทดสอบความน่าเชื่อถือของไมโครอินเวอร์เตอร์: น้ำหนักไมโครอินเวอร์เตอร์ +65 ปอนด์ *4 ครั้ง2. การทดสอบกันน้ำของไมโครอินเวอร์เตอร์: NEMA 6[การทำงานต่อเนื่อง 1 เมตรในน้ำเป็นเวลา 24 ชั่วโมง]3. การแช่แข็งแบบเปียกตามวิธีการทดสอบ IEC61215: 85℃/85%RH←→-45℃/110 วัน4. การทดสอบอายุการใช้งานที่เร่งขึ้นของไมโครอินเวอร์เตอร์ [รวมทั้งหมด 110 วัน การทดสอบแบบไดนามิกที่กำลังไฟที่กำหนด ทำให้มั่นใจได้ว่าไมโครอินเวอร์เตอร์จะมีอายุการใช้งานได้มากกว่า 20 ปี] :ขั้นตอนที่ 1: การแช่แข็งแบบเปียก: 85℃/85%RH←→-45℃/10 วันขั้นตอนที่ 2: วงจรอุณหภูมิ: -45℃←→85℃/50 วันขั้นตอนที่ 3: ความร้อนชื้น: 85℃/85%RH/50 วัน

  แท็กยอดนิยม : ห้องทดสอบการหมุนเวียนอุณหภูมิ ห้องทดสอบความชื้นอุณหภูมิสูงและต่ำ ห้องทดสอบอุณหภูมิคงที่ ห้องทดสอบอุณหภูมิร้อนและเย็น เครื่องทดสอบความร้อนและความเย็น อุปกรณ์ทดสอบการแช่แข็งด้วยความชื้น

  อ่านเพิ่มเติม
• การทดสอบวงจรอุณหภูมิ IEEE1513 การทดสอบการแช่แข็งด้วยความชื้น และการทดสอบความร้อน-ความชื้น 1

  Oct 07, 2024

  การทดสอบวงจรอุณหภูมิ IEEE1513 การทดสอบการแช่แข็งด้วยความชื้น และการทดสอบความร้อน-ความชื้น 1ในบรรดาข้อกำหนดการทดสอบความน่าเชื่อถือด้านสิ่งแวดล้อมของเซลล์ ตัวรับ และโมดูลของเซลล์แสงอาทิตย์แบบเข้มข้นนั้นมีวิธีการทดสอบและเงื่อนไขการทดสอบของตนเองในการทดสอบวัฏจักรอุณหภูมิ การทดสอบการเยือกแข็งด้วยความชื้น และการทดสอบความร้อน-ความชื้น และยังมีความแตกต่างในการยืนยันคุณภาพหลังการทดสอบอีกด้วย ดังนั้น IEEE1513 จึงมีการทดสอบสามแบบในการทดสอบวัฏจักรอุณหภูมิ การทดสอบการเยือกแข็งด้วยความชื้น และการทดสอบความร้อน-ความชื้นในข้อกำหนด และความแตกต่างและวิธีการทดสอบนั้นก็ได้รับการคัดแยกเพื่อให้ทุกคนได้ใช้อ้างอิงที่มาอ้างอิง : IEEE Std 1513-2001การทดสอบวงจรความร้อน IEEE1513-5.7 การทดสอบวงจรความร้อน IEEE1513-5.7วัตถุประสงค์: เพื่อตรวจสอบว่าปลายรับสามารถทนต่อความล้มเหลวที่เกิดจากความแตกต่างของการขยายตัวเนื่องจากความร้อนระหว่างชิ้นส่วนและวัสดุของข้อต่อได้อย่างเหมาะสมหรือไม่ โดยเฉพาะอย่างยิ่งคุณภาพของข้อต่อบัดกรีและบรรจุภัณฑ์ พื้นหลัง: การทดสอบวงจรอุณหภูมิของเซลล์แสงอาทิตย์แบบเข้มข้นเผยให้เห็นความล้าจากการเชื่อมของแผงระบายความร้อนทองแดง และต้องใช้การส่งคลื่นอัลตราโซนิกแบบสมบูรณ์เพื่อตรวจจับการเติบโตของรอยแตกร้าวในเซลล์ (SAND92-0958 [B5])การแพร่กระจายของรอยแตกร้าวเป็นฟังก์ชันของจำนวนรอบอุณหภูมิ ข้อต่อบัดกรีที่สมบูรณ์เริ่มต้น ประเภทของข้อต่อบัดกรี ระหว่างแบตเตอรี่และหม้อน้ำเนื่องจากค่าสัมประสิทธิ์การขยายตัวเนื่องจากความร้อนและพารามิเตอร์รอบอุณหภูมิ หลังจากการทดสอบรอบความร้อนเพื่อตรวจสอบโครงสร้างตัวรับของบรรจุภัณฑ์และคุณภาพของวัสดุฉนวน มีแผนการทดสอบสองแผนสำหรับโปรแกรมที่ทดสอบดังต่อไปนี้:โปรแกรม A และ โปรแกรม Bขั้นตอน A: ทดสอบความต้านทานของตัวรับภายใต้ความเค้นความร้อนที่เกิดจากความแตกต่างของการขยายตัวเนื่องจากความร้อนขั้นตอนที่ B: วงจรอุณหภูมิก่อนการทดสอบการแช่แข็งด้วยความชื้นก่อนการบำบัดเบื้องต้น จะเน้นย้ำว่าข้อบกพร่องเบื้องต้นของวัสดุที่รับนั้นเกิดจากการแช่แข็งแบบเปียกจริง เพื่อให้ปรับให้เข้ากับการออกแบบพลังงานแสงอาทิตย์ที่มีความเข้มข้นต่างๆ ได้ สามารถตรวจสอบการทดสอบวงจรอุณหภูมิของโปรแกรม A และโปรแกรม B ซึ่งแสดงอยู่ในตารางที่ 1 และตารางที่ 21. ตัวรับเหล่านี้ได้รับการออกแบบโดยมีเซลล์แสงอาทิตย์เชื่อมต่อโดยตรงกับหม้อน้ำทองแดง และมีเงื่อนไขที่จำเป็นแสดงอยู่ในตารางแถวแรก2. วิธีนี้จะช่วยให้สามารถค้นพบกลไกที่อาจนำไปสู่ข้อบกพร่องในระหว่างขั้นตอนการพัฒนาได้ การออกแบบเหล่านี้ใช้วิธีการที่แตกต่างกัน และสามารถใช้เงื่อนไขทางเลือกตามที่แสดงในตารางเพื่อแยกหม้อน้ำของแบตเตอรี่ออกตารางที่ 3 แสดงให้เห็นว่าส่วนรับจะดำเนินการรอบอุณหภูมิของโปรแกรม B ก่อนทางเลือกเนื่องจากโปรแกรม B ทดสอบวัสดุอื่นๆ เป็นหลักในส่วนที่รับ จึงมีทางเลือกอื่นๆ ให้กับการออกแบบทั้งหมดตารางที่ 1 - การทดสอบขั้นตอนวงจรอุณหภูมิสำหรับเครื่องรับโปรแกรม A- วัฏจักรความร้อนตัวเลือกอุณหภูมิสูงสุดจำนวนรอบรวมการใช้งานปัจจุบันการออกแบบที่ต้องการTCR-เอ110℃250Noแบตเตอรี่เชื่อมกับหม้อน้ำทองแดงโดยตรงทีซีอาร์-บี90℃500Noบันทึกการออกแบบอื่นๆทีซีอาร์-ซี90℃250ฉัน(สมัคร) = Iscบันทึกการออกแบบอื่นๆตารางที่ 2 - การทดสอบขั้นตอนวงจรอุณหภูมิของเครื่องรับขั้นตอนที่ B- วงจรอุณหภูมิก่อนการทดสอบการแช่แข็งแบบเปียกตัวเลือกอุณหภูมิสูงสุดจำนวนรอบรวมการใช้งานปัจจุบันการออกแบบที่ต้องการHFR-เอ 110℃100Noเอกสารประกอบการออกแบบทั้งหมด เอชเอฟอาร์-บี 90℃200Noเอกสารประกอบการออกแบบทั้งหมด เอชเอฟอาร์-ซี 90℃100ฉัน(สมัคร) = Iscเอกสารประกอบการออกแบบทั้งหมด ขั้นตอน: ปลายทางที่รับจะถูกทดสอบด้วยรอบอุณหภูมิระหว่าง -40 °C และอุณหภูมิสูงสุด (ตามขั้นตอนการทดสอบในตารางที่ 1 และตารางที่ 2) โดยสามารถใส่การทดสอบรอบลงในกล่องเดียวหรือสองกล่อง ห้องทดสอบการช็อกอุณหภูมิแก๊สไม่ควรใช้รอบการช็อกของเหลว เวลาดำเนินการอย่างน้อย 10 นาที และอุณหภูมิสูงและต่ำควรอยู่ในข้อกำหนด ±5 °C ความถี่ของรอบไม่ควรเกิน 24 รอบต่อวันและไม่น้อยกว่า 4 รอบต่อวัน ความถี่ที่แนะนำคือ 18 ครั้งต่อวันจำนวนรอบความร้อนและอุณหภูมิสูงสุดที่ต้องการสำหรับตัวอย่างทั้งสองตัวอย่าง ดูได้จากตารางที่ 3 (ขั้นตอน B ของรูปที่ 1) หลังจากนั้นจะทำการตรวจสอบด้วยสายตาและทดสอบลักษณะทางไฟฟ้า (ดู 5.1 และ 5.2) ตัวอย่างเหล่านี้จะต้องผ่านการทดสอบการแช่แข็งแบบเปียก ตามข้อ 5.8 และสำหรับเครื่องรับขนาดใหญ่กว่า ให้ดูที่ข้อ 4.1.1 (ขั้นตอนนี้แสดงไว้ในรูปที่ 2)พื้นหลัง: วัตถุประสงค์ของการทดสอบวงจรอุณหภูมิคือเพื่อเร่งการทดสอบที่ปรากฏในกลไกความล้มเหลวระยะสั้นก่อนที่จะตรวจพบความล้มเหลวของฮาร์ดแวร์พลังงานแสงอาทิตย์แบบรวมศูนย์ ดังนั้น การทดสอบจึงรวมถึงความเป็นไปได้ในการเห็นความแตกต่างของอุณหภูมิที่กว้างเกินช่วงโมดูล ขีดจำกัดบนของวงจรอุณหภูมิที่ 60 ° C ขึ้นอยู่กับอุณหภูมิการอ่อนตัวของเลนส์อะคริลิกโมดูลจำนวนมาก สำหรับการออกแบบอื่น ๆ อุณหภูมิของโมดูล ขีดจำกัดบนของวงจรอุณหภูมิคือ 90 ° C (ดูตารางที่ 3)ตารางที่ 3 รายการเงื่อนไขการทดสอบสำหรับรอบอุณหภูมิโมดูลขั้นตอนที่ B การเตรียมอุณหภูมิล่วงหน้าก่อนการทดสอบการแช่แข็งแบบเปียกตัวเลือกอุณหภูมิสูงสุดจำนวนรอบรวมการใช้งานปัจจุบันการออกแบบที่ต้องการแพทย์แผนจีน-ก 90℃50Noเอกสารประกอบการออกแบบทั้งหมด เทม-บี 60℃200Noอาจต้องมีการออกแบบโมดูลเลนส์พลาสติก  

  แท็กยอดนิยม : ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ ห้องทดสอบการหมุนเวียนอุณหภูมิ ห้องทดสอบ SUS#304 ห้องทดสอบความชื้นอุณหภูมิสูงและต่ำ ห้องทดสอบความน่าเชื่อถือด้านสิ่งแวดล้อม ห้องทดสอบอุณหภูมิคงที่

  อ่านเพิ่มเติม
• IEC 60068-2 การทดสอบการควบแน่นและอุณหภูมิและความชื้นร่วมกัน

  Sep 27, 2024

  IEC 60068-2 การทดสอบการควบแน่นและอุณหภูมิและความชื้นร่วมกันในข้อกำหนด IEC60068-2 มีการทดสอบความร้อนชื้นทั้งหมด 5 ประเภท นอกเหนือจากอุณหภูมิสูงจุดคงที่ทั่วไปที่ 85℃/85%RH, 40℃/93%RH และความชื้นสูงแล้ว ยังมีการทดสอบพิเศษอีกสองแบบ [IEC60068-2-30, IEC60068-2-38] ซึ่งสลับกันระหว่างรอบเปียกและชื้นและรอบผสมอุณหภูมิและความชื้น ดังนั้นกระบวนการทดสอบจะเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิและความชื้น แม้แต่โปรแกรมกลุ่มต่างๆ ของลิงก์และรอบการใช้งานที่ใช้ในเซมิคอนดักเตอร์ IC ชิ้นส่วน อุปกรณ์ ฯลฯ เพื่อจำลองปรากฏการณ์การควบแน่นกลางแจ้ง ประเมินความสามารถของวัสดุในการป้องกันการแพร่กระจายของน้ำและก๊าซ และเร่งความทนทานของผลิตภัณฑ์ต่อการเสื่อมสภาพ ข้อกำหนดทั้งห้าประการจะถูกจัดระเบียบเป็นตารางเปรียบเทียบความแตกต่างในข้อกำหนดการทดสอบแบบเปียกและแบบความร้อน และจุดหลักของการทดสอบจะได้รับการอธิบายอย่างละเอียดสำหรับการทดสอบแบบวงจรรวมแบบเปียกและแบบความร้อน และมีการเสริมเงื่อนไขการทดสอบและจุดของ GJB ในการทดสอบแบบเปียกและแบบความร้อนIEC60068-2-30 การทดสอบวงจรความร้อนชื้นสลับกันหมายเหตุ: การทดสอบนี้ใช้เทคนิคการทดสอบในการรักษาความชื้นและการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิเพื่อให้ความชื้นซึมเข้าไปในตัวอย่างและก่อให้เกิดการควบแน่น (การควบแน่น) บนพื้นผิวของผลิตภัณฑ์เพื่อยืนยันความสามารถในการปรับตัวของส่วนประกอบ อุปกรณ์ หรือผลิตภัณฑ์อื่น ๆ ในการใช้งาน การขนส่ง และการจัดเก็บภายใต้การรวมกันของความชื้นสูงและการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิและความชื้น ข้อกำหนดนี้ยังเหมาะสำหรับตัวอย่างทดสอบขนาดใหญ่ หากอุปกรณ์และกระบวนการทดสอบจำเป็นต้องรักษาส่วนประกอบความร้อนพลังงานสำหรับการทดสอบนี้ ผลจะดีกว่า IEC60068-2-38 อุณหภูมิสูงที่ใช้ในการทดสอบนี้มีสอง (40 °C, 55 °C) 40 °C เพื่อตอบสนองสภาพแวดล้อมอุณหภูมิสูงส่วนใหญ่ของโลก ในขณะที่ 55 °C ตอบสนองสภาพแวดล้อมอุณหภูมิสูงทั้งหมดของโลก เงื่อนไขการทดสอบยังแบ่งออกเป็น [รอบ 1, รอบ 2] ในแง่ของความรุนแรง [รอบ 1] สูงกว่า [รอบ 2]เหมาะสำหรับผลิตภัณฑ์เสริม: ส่วนประกอบ อุปกรณ์ ผลิตภัณฑ์ประเภทต่างๆ ที่จะทดสอบสภาพแวดล้อมการทดสอบ: การรวมกันของความชื้นสูงและการเปลี่ยนแปลงแบบวนซ้ำของอุณหภูมิทำให้เกิดการควบแน่น และสามารถทดสอบสภาพแวดล้อมได้สามประเภท [การใช้งาน การจัดเก็บ การขนส่ง ([บรรจุภัณฑ์เป็นทางเลือก)]ความเครียดในการทดสอบ: การหายใจทำให้ไอน้ำเข้ามามีไฟฟ้าใช้หรือไม่: ใช่ไม่เหมาะสำหรับ : ชิ้นส่วนที่มีน้ำหนักเบาเกินไปและเล็กเกินไปกระบวนการทดสอบและการตรวจสอบและสังเกตหลังการทดสอบ: ตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงทางไฟฟ้าหลังจากความชื้น [อย่านำการตรวจสอบกลางออก]เงื่อนไขการทดสอบ: ความชื้น: 95% RH อุ่นขึ้น] หลังจาก [รักษาความชื้น (อุณหภูมิต่ำ 25 + 3 ℃ - อุณหภูมิสูง 40 ℃ หรือ 55 ℃)อัตราการเพิ่มขึ้นและการเย็นลง: การให้ความร้อน (0.14℃/นาที), การทำให้เย็นลง (0.08~0.16℃/นาที)วงจรที่ 1: เมื่อการดูดซึมและผลต่อระบบทางเดินหายใจเป็นคุณลักษณะที่สำคัญ ตัวอย่างทดสอบจะมีความซับซ้อนมากขึ้น [ความชื้นไม่น้อยกว่า 90%RH]รอบที่ 2: ในกรณีที่การดูดซึมและผลต่อระบบทางเดินหายใจไม่ชัดเจน ตัวอย่างทดสอบจะง่ายกว่า [ความชื้นไม่น้อยกว่า 80%RH]IEC60068-2-30 การทดสอบอุณหภูมิและความชื้นสลับกัน (การทดสอบการควบแน่น)หมายเหตุ: สำหรับประเภทส่วนประกอบของผลิตภัณฑ์ชิ้นส่วน ใช้วิธีการทดสอบแบบผสมผสานเพื่อเร่งการยืนยันความทนทานของตัวอย่างทดสอบต่อการเสื่อมสภาพภายใต้สภาวะอุณหภูมิสูง ความชื้นสูง และอุณหภูมิต่ำ วิธีการทดสอบนี้แตกต่างจากข้อบกพร่องของผลิตภัณฑ์ที่เกิดจากการหายใจ [น้ำค้าง การดูดซับความชื้น] ของ IEC60068-2-30 ความรุนแรงของการทดสอบนี้สูงกว่าการทดสอบวงจรความร้อนชื้นอื่นๆ เนื่องจากมีการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิและ [การหายใจ] มากขึ้นระหว่างการทดสอบ และช่วงอุณหภูมิของวงจรจะกว้างขึ้น [จาก 55℃ ถึง 65℃] อัตราการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิของวงจรอุณหภูมิยังเร็วขึ้นด้วย [การเพิ่มขึ้นของอุณหภูมิ: 0.14℃/นาที กลายเป็น 0.38℃/นาที 0.08℃/นาที กลายเป็น 1.16 ℃/นาที] นอกจากนี้ แตกต่างจากวงจรความร้อนชื้นทั่วไป สภาวะของวงจรอุณหภูมิต่ำที่ -10℃ จะเพิ่มขึ้น ซึ่งเร่งอัตราการหายใจและทำให้น้ำควบแน่นในช่องว่างของน้ำแข็งทดแทน ลักษณะเฉพาะของข้อกำหนดการทดสอบนี้คือ กระบวนการทดสอบยอมให้ทดสอบพลังงานและพลังงานโหลดได้ แต่ไม่สามารถส่งผลกระทบต่อเงื่อนไขการทดสอบ (ความผันผวนของอุณหภูมิและความชื้น อัตราการเพิ่มขึ้นและอัตราการเย็นลง) ได้ เนื่องจากความร้อนของผลิตภัณฑ์ข้างเคียงหลังจากไฟฟ้า เนื่องจากการเปลี่ยนแปลงของอุณหภูมิและความชื้นในระหว่างกระบวนการทดสอบ แต่ด้านบนของห้องทดสอบไม่สามารถควบแน่นหยดน้ำลงบนผลิตภัณฑ์ข้างเคียงได้เหมาะสำหรับผลิตภัณฑ์เสริม: ส่วนประกอบ การปิดผนึกส่วนประกอบโลหะ การปิดผนึกปลายตะกั่วสภาพแวดล้อมการทดสอบ: การรวมกันของอุณหภูมิสูง ความชื้นสูง และอุณหภูมิต่ำความเครียดในการทดสอบ: หายใจเร็วขึ้น + น้ำแข็งสามารถเปิดเครื่องได้หรือไม่: สามารถเปิดเครื่องและโหลดไฟฟ้าภายนอกได้ (ไม่สามารถส่งผลกระทบต่อสภาพของห้องทดสอบเนื่องจากความร้อนไฟฟ้า)ไม่สามารถใช้ได้: ไม่สามารถทดแทนความร้อนชื้นและความร้อนชื้นสลับกันได้ การทดสอบนี้ใช้เพื่อผลิตข้อบกพร่องที่แตกต่างจากการหายใจกระบวนการทดสอบและการตรวจสอบและสังเกตหลังการทดสอบ: ตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงทางไฟฟ้าหลังจากความชื้น [ตรวจสอบภายใต้สภาวะความชื้นสูงและนำออกหลังการทดสอบ]เงื่อนไขการทดสอบ: รอบอุณหภูมิและความชื้นสัมพัทธ์ (25 ↔ 65 + 2 ° C / 93 + 3% rh) - รอบอุณหภูมิต่ำ (25 ↔ 65 + 2 ℃ / 93 + 3% rh -- 10 + 2 ° C) รอบ X5 = 10 รอบอัตราการเพิ่มขึ้นและการเย็นลง: การให้ความร้อน (0.38℃/นาที), การทำให้เย็นลง (1.16 °C/นาที)การทดสอบความร้อนชื้น GJB150-o9คำอธิบาย: การทดสอบความชื้นและความร้อนของ GJB150-09 มีวัตถุประสงค์เพื่อยืนยันความสามารถของอุปกรณ์ในการทนต่ออิทธิพลของบรรยากาศร้อนและชื้น เหมาะสำหรับอุปกรณ์ที่จัดเก็บและใช้งานในสภาพแวดล้อมร้อนและชื้น อุปกรณ์ที่มักมีความชื้นสูงในการจัดเก็บหรือใช้งาน หรืออุปกรณ์อาจมีปัญหาที่อาจเกิดขึ้นเกี่ยวกับความร้อนและความชื้น สถานที่ที่ร้อนและชื้นอาจเกิดขึ้นตลอดทั้งปีในพื้นที่เขตร้อน เกิดขึ้นตามฤดูกาลในละติจูดกลาง และในอุปกรณ์ที่อยู่ภายใต้การเปลี่ยนแปลงของความดัน อุณหภูมิ และความชื้นอย่างครอบคลุม ข้อกำหนดเน้นย้ำเป็นพิเศษที่ 60 ° C / 95%RH อุณหภูมิและความชื้นที่สูงนี้ไม่ได้เกิดขึ้นในธรรมชาติ และไม่ได้จำลองผลกระทบของความชื้นและความร้อนหลังจากรังสีดวงอาทิตย์ แต่สามารถค้นหาปัญหาที่อาจเกิดขึ้นในอุปกรณ์ได้ อย่างไรก็ตาม ไม่สามารถจำลองสภาพแวดล้อมอุณหภูมิและความชื้นที่ซับซ้อน ประเมินผลกระทบในระยะยาว และจำลองผลกระทบของความชื้นที่เกี่ยวข้องกับสภาพแวดล้อมที่มีความชื้นต่ำได้ 

  แท็กยอดนิยม : ห้องทดสอบที่เป็นมิตรกับสิ่งแวดล้อม เครื่องทดสอบความร้อนและความเย็น ห้องทดสอบ SUS#304 ห้องทดสอบความชื้นอุณหภูมิสูงและต่ำ อุปกรณ์ทดสอบความยั่งยืน ห้องทดสอบอุณหภูมิและความชื้นที่เชื่อถือได้

  อ่านเพิ่มเติม