GUANGDONG LABCOMPANION Ltd. ได้รับสิทธิบัตรใหม่ในการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ด้วยห้องทดสอบอุณหภูมิสูง-ต่ำ

ตงกวน ประเทศจีน – 2 เมษายน 2025 –เพื่อนร่วมห้องแล็ปซึ่งเป็นผู้ริเริ่มนวัตกรรมชั้นนำด้านโซลูชันการทดสอบสิ่งแวดล้อม ได้รับสิทธิบัตรอันล้ำสมัยสำหรับห้องทดสอบอุณหภูมิสูง-ต่ำขั้นสูง ออกแบบมาเพื่อการตรวจจับชิปเซมิคอนดักเตอร์ สิทธิบัตรดังกล่าวซึ่งออกอย่างเป็นทางการโดยสำนักงานทรัพย์สินทางปัญญาแห่งชาติจีนเมื่อวันที่ 1 เมษายน 2025 (สิทธิบัตรหมายเลข ZL 2024 1 1290322.4) ถือเป็นก้าวสำคัญในการมุ่งมั่นของบริษัทในด้านความแม่นยำและความน่าเชื่อถือในการทดสอบทางอุตสาหกรรม

การปฏิวัติการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์

เทคโนโลยีที่ได้รับสิทธิบัตรใหม่นี้เปิดตัวระบบล้ำสมัยที่สามารถทำให้ชิปเซมิคอนดักเตอร์ทนต่ออุณหภูมิที่เปลี่ยนแปลงอย่างรุนแรงได้อย่างแม่นยำ นวัตกรรมนี้ช่วยแก้ไขปัญหาสำคัญในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ ซึ่งการทดสอบความร้อนที่แม่นยำมีความจำเป็นเพื่อรับประกันความทนทานและประสิทธิภาพของชิปภายใต้สภาวะการทำงานที่หลากหลาย

พารามิเตอร์มาตรฐานสำหรับการทดสอบสิ่งแวดล้อมของชิปเซมิคอนดักเตอร์

1. การทดสอบอุณหภูมิ

- ช่วงอุณหภูมิ :

- ช่วงการทำงาน: -40°C ถึง +125°C (ปกติสำหรับชิประดับอุตสาหกรรม)

- ช่วงขยาย: -65°C ถึง +150°C (สำหรับการใช้งานทางทหาร/อวกาศ)

- การปั่นจักรยานความร้อน:

- อัตราการเปลี่ยนแปลง: 5°C/นาที ถึง 20°C/นาที (ขึ้นอยู่กับมาตรฐานการทดสอบ)

- ระยะเวลาการคงอยู่: 10–30 นาที ที่อุณหภูมิสูงสุด (เพื่อรักษาสภาพให้คงที่)

- รอบ: 100–1,000 รอบ (ตาม JEDEC, MIL-STD หรือ AEC-Q100)

2. การทดสอบความชื้น

- ความชื้นสัมพัทธ์ (RH): 85%–95% RH

- อุณหภูมิ: 85°C (มักใช้ในการทดสอบ "85/85" เพื่อการเร่งอายุ)

- ระยะเวลา: 500–1,000 ชั่วโมง (ตาม JESD22-A101)

3. การทดสอบการช็อกความร้อน

- อุณหภูมิที่รุนแรง: -55°C ถึง +125°C (ตามวิธี MIL-STD-883G 1011)

- ระยะเวลาเปลี่ยนผ่าน: <1 นาที (ของเหลวต่อของเหลว) หรือ <5 นาที (อากาศสู่อากาศ)

- จำนวนรอบ: 50–500 รอบ

4. การสั่นสะเทือนและความเครียดเชิงกล

- ช่วงความถี่: 5 Hz–2 kHz (ตามมาตรฐาน MIL-STD-883)

-อัตราเร่ง : 5–20 G (ขึ้นอยู่กับการใช้งาน)

5. มาตรฐานที่สำคัญอื่นๆ

- มาตรฐาน JEDEC (เช่น JESD22-A104 สำหรับการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ)

- AEC-Q100: คุณสมบัติชิประดับยานยนต์

- MIL-STD-883: การทดสอบความน่าเชื่อถือทางการทหาร/การป้องกันประเทศ

- IEC 60068: แนวทางการทดสอบสิ่งแวดล้อมทั่วไป

พารามิเตอร์เหล่านี้ช่วยให้ชิปเซมิคอนดักเตอร์ตอบสนองข้อกำหนดของอุตสาหกรรมด้านประสิทธิภาพภายใต้สภาวะที่รุนแรง ค่าเฉพาะอาจแตกต่างกันไปขึ้นอยู่กับการใช้งาน (เช่น อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์สำหรับผู้บริโภคเทียบกับยานยนต์)

หมายเหตุ: ควรดูมาตรฐานที่เกี่ยวข้องเวอร์ชันล่าสุดเสมอ (JEDEC, AEC, MIL-STD เป็นต้น) เพื่อให้ได้โปรโตคอลการทดสอบที่แม่นยำ

“พารามิเตอร์การทดสอบที่ปรับให้เหมาะสมของเรานั้นก้าวข้ามมาตรฐานแบบเดิมในสามวิธีที่สำคัญ ประการแรก เราได้ขยายช่วงอุณหภูมิเป็น -70℃ ถึง +175℃ ซึ่งกว้างกว่าช่วงปกติที่ -40℃ ถึง +125℃ มาก เพื่อตอบสนองความต้องการด้านอิเล็กทรอนิกส์กำลังและการใช้งานด้านอวกาศ ประการที่สอง เราได้เร่งอัตราการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิเป็น 30℃/นาที ซึ่งช่วยลดเวลาในการทดสอบลงได้ครึ่งหนึ่งโดยยังคงความแม่นยำไว้ ซึ่งแตกต่างจากแนวทางแบบเดิมที่ 5–20℃/นาที ประการที่สาม เราได้ผสานการสั่นสะเทือนหลายแกน (สูงสุด 50G) เข้ากับแรงกระแทกจากความร้อนที่รุนแรง (-65℃↔+175℃ ในเวลาต่ำกว่า 30 วินาที) ซึ่งเป็นการผสมผสานที่ไม่ค่อยมีการกล่าวถึงในมาตรฐานเก่าๆ เช่น JEDEC หรือ MIL-STD การอัปเกรดเหล่านี้ไม่เพียงแต่ทดสอบชิปเท่านั้น แต่ยังช่วยให้ชิปพร้อมสำหรับอนาคตอีกด้วย” ซีอีโอกล่าว

“สิทธิบัตรนี้ตอกย้ำถึงความมุ่งมั่นของเราในการผลักดันขอบเขตของเทคโนโลยีการทดสอบ” โฆษกของ LabCompanion กล่าว “ห้องทดสอบอุณหภูมิสูง-ต่ำของเราไม่เพียงแต่ช่วยเพิ่มประสิทธิภาพเท่านั้น แต่ยังสร้างมาตรฐานใหม่สำหรับความน่าเชื่อถือในการควบคุมคุณภาพเซมิคอนดักเตอร์อีกด้วย

คุณสมบัติหลักและข้อดี

- การควบคุมความแม่นยำ: อุปกรณ์นี้มีการควบคุมอุณหภูมิที่แม่นยำ ช่วยให้สามารถทดสอบได้อย่างเข้มงวดในสภาวะความร้อนที่หลากหลาย

- เพิ่มความทนทาน: ออกแบบมาเพื่อทนต่อรอบความร้อนที่เกิดซ้ำ ช่วยให้ระบบมีเสถียรภาพและความแม่นยำในระยะยาว

- การดำเนินงานที่เป็นมิตรกับผู้ใช้: วิธีการที่แนบมาช่วยลดความซับซ้อนของขั้นตอนการทดสอบ ทำให้สามารถเข้าถึงการใช้งานในอุตสาหกรรมได้

เราเป็นผู้นำด้านเทคโนโลยีห้องทดสอบสิ่งแวดล้อม โดยผสมผสานนวัตกรรมอย่างต่อเนื่องเข้ากับข้อมูลเชิงลึกของตลาดเพื่อพัฒนาโซลูชันการทดสอบขั้นสูงสำหรับทุกอุตสาหกรรม เราได้รับการพิสูจน์ในตลาดด้วยคุณภาพและบริการที่ยอดเยี่ยม และได้รับแรงบันดาลใจจากการเลือกของคุณที่จะขยายขอบเขตให้กว้างขึ้นทุกวัน

สำหรับข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับอุปกรณ์ทดสอบอุณหภูมิ โปรดไปที่ [ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ-