วัตถุประสงค์และการประยุกต์ใช้การทดสอบ PCT (1)

วัตถุประสงค์และการประยุกต์ใช้การทดสอบ PCT (1)

การทดสอบ PCT เรียกอีกอย่างว่าการทดสอบการปรุงอาหารด้วยหม้อความดันหรือการทดสอบไอน้ำอิ่มตัว สิ่งที่สำคัญที่สุดคือการทดสอบผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบภายใต้อุณหภูมิที่รุนแรง ความชื้นอิ่มตัว (100% RH) [ไอน้ำอิ่มตัว] และสภาพแวดล้อมที่มีความดัน ทดสอบความต้านทานความชื้นสูงของผลิตภัณฑ์ทดสอบ สำหรับแผงวงจรพิมพ์ (PCB&FPC) ใช้ในการทดสอบการดูดซับความชื้นของวัสดุ การทดสอบการปรุงอาหารด้วยแรงดันสูง... เพื่อจุดประสงค์ของการทดสอบ หากผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบเป็นเซมิคอนดักเตอร์ จะใช้ทดสอบความต้านทานความชื้นของแพ็คเกจเซมิคอนดักเตอร์ ผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบจะถูกวางไว้ในสภาพแวดล้อมที่มีอุณหภูมิ ความชื้น และความดันที่รุนแรง หากแพ็คเกจเซมิคอนดักเตอร์ไม่ดี ความชื้นจะแทรกซึมเข้าไปในแพ็คเกจตามคอลลอยด์หรืออินเทอร์เฟซระหว่างคอลลอยด์และโครงตัวนำ เอฟเฟกต์ป๊อปคอร์น วงจรเปิดที่เกิดจากการกัดกร่อนของพื้นที่โลหะไดนามิก ไฟฟ้าลัดวงจรที่เกิดจากการปนเปื้อนระหว่างพินแพ็คเกจ... และปัญหาอื่นๆ ที่เกี่ยวข้อง

โครงสร้างการทดสอบเครื่องย่อยด้วยแรงดัน (PCT):

ห้องทดสอบประกอบด้วยภาชนะแรงดันซึ่งรวมถึงเครื่องทำน้ำอุ่นที่สามารถสร้างสภาพแวดล้อมที่เปียกได้ 100% ความล้มเหลวที่แตกต่างกันของผลิตภัณฑ์ที่จะทดสอบหลังจากการทดสอบ PCT อาจเกิดจากการควบแน่นของไอน้ำและการแทรกซึมในปริมาณมาก

ส่วนโค้งอ่างอาบน้ำ:

เส้นโค้งอ่างอาบน้ำ (เส้นโค้งอ่างอาบน้ำ ระยะเวลาความล้มเหลว) หรือที่เรียกว่าเส้นโค้งอ่างอาบน้ำ เส้นโค้งรอยยิ้ม จะแสดงอัตราความล้มเหลวของผลิตภัณฑ์ในช่วงเวลาต่างๆ เป็นหลัก โดยส่วนใหญ่ได้แก่ ระยะเวลาการตายก่อนกำหนด (ระยะเวลาความล้มเหลวก่อนกำหนด) ระยะเวลาปกติ (ระยะเวลาความล้มเหลวแบบสุ่ม) ระยะเวลาการสึกหรอ (ระยะเวลาความล้มเหลวจากการเสื่อมสภาพ) ตามกล่องทดสอบความน่าเชื่อถือของการทดสอบสิ่งแวดล้อม สามารถแบ่งได้เป็นการทดสอบการคัดกรอง การทดสอบอายุการใช้งานที่เร่งขึ้น (การทดสอบความทนทาน) และการทดสอบอัตราความล้มเหลว "การออกแบบการทดสอบ" "การดำเนินการทดสอบ" และ "การวิเคราะห์การทดสอบ" ควรพิจารณาโดยรวมเมื่อดำเนินการทดสอบความน่าเชื่อถือ

ระยะเวลาความล้มเหลวทั่วไป:

ความล้มเหลวในระยะเริ่มต้น (เสียชีวิตก่อนวัยอันควร, การเสียชีวิตของทารก) : การผลิตที่ไม่สมบูรณ์, วัสดุที่มีข้อบกพร่อง, สภาพแวดล้อมที่ไม่เหมาะสม, การออกแบบที่ไม่สมบูรณ์ ช่วงเวลาความล้มเหลวแบบสุ่ม (ช่วงเวลาปกติ, ช่วงเวลาอายุการใช้งาน) : แรงกระแทกจากภายนอก, การใช้งานผิดวิธี, การเปลี่ยนแปลงของสภาพแวดล้อมที่ผันผวน, ประสิทธิภาพการบีบอัดที่ไม่ดี ช่วงเวลาความล้มเหลวจากการเสื่อมสภาพ (ช่วงเวลาการสึกหรอ) : ออกซิเดชัน, ความล้าตามวัย, ประสิทธิภาพลดลง, การกัดกร่อน

คำอธิบายแผนภูมิความเครียดและความล้มเหลวของสิ่งแวดล้อม:

ตามรายงานทางสถิติของ Hughes Airlines สัดส่วนของความเครียดด้านสิ่งแวดล้อมที่เกิดจากความล้มเหลวของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ ความสูงคิดเป็น 2% ละอองเกลือคิดเป็น 4% ฝุ่นคิดเป็น 6% การสั่นสะเทือนคิดเป็น 28% และอุณหภูมิและความชื้นคิดเป็น 60% ดังนั้นผลกระทบของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ต่ออุณหภูมิและความชื้นจึงมีความสำคัญเป็นพิเศษ แต่เนื่องจากการทดสอบอุณหภูมิและความชื้นสูงแบบดั้งเดิม (เช่น 40℃/90%RH, 85℃/85%RH, 60℃/95%RH) ใช้เวลานาน เพื่อเร่งอัตราความเร็วเหนือเสียงของวัสดุและลดระยะเวลาการทดสอบ จึงสามารถใช้เครื่องมือทดสอบที่เร่งความเร็ว (HAST [เครื่องทดสอบอายุการใช้งานที่เร่งความเร็วสูง], PCT [หม้อแรงดัน]) เพื่อดำเนินการทดสอบที่เกี่ยวข้อง เรียกอีกอย่างว่าการทดสอบ (ระยะเวลาความล้มเหลวที่เสื่อมสภาพ ระยะเวลาการสึกหรอ)